基質輔助激光電離質譜儀是一種分離和檢測不同同位素的分析儀器，它用高能電子流等轟擊樣品分子，使該分子失去電子變為帶正電荷的分子離子和碎片離子。這些不同離子具有不同的質量，質量不同的離子在磁場的作用下到達檢測器的時間不同，其結果呈現為質譜圖，根據質譜圖可定性和定量分析樣品分子組成。
基質輔助激光電離質譜儀的離子源和離子化室介紹：
電子電離源是包括離子產生、離開離子化區域、形成的離子束進行聚焦，并通過狹縫或者透鏡將離子送出離子源這樣一個整體。離子化室則屬于離子源的一部分，是離子化的工作區域，為了便于清洗和切換離子化室也有做成離子體、離子匣等，它通常總帶上燈絲，后者通過電流產生表擊用的熱電子。
燈絲溫度約有2000℃，故在熱電子的出口處裝上屏蔽縫，可控制到達燈絲的有機分子不再返回到離子化區域。離子源內裝上的一對磁鐵可以使發射電子沿著磁力線方向做螺旋式運動，由此改善電子束的形狀和方向，使產生的離子在能量上有小的色散，并有效地提高離子化幾率，推斥板和拉出電位透鏡使離子很快地離開離子化室，不讓形成的正離子在壁上失去正電荷。推斥板加上正電位，幫助把正離子推出。
有的儀器的EI源靈敏度還是推斥板電位的函數，它的電位值有兩個相應峰值，其中一個有較高的靈敏度和分辨率，但處于不穩定狀態；另一個峰值則很穩定。離子源其他各透鏡的安排、電極板幾何形狀是考慮到源內電力線的分布，達到構成一定形狀離子束的目的。
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