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一、iEDX-150T(S)薄金鍍層測厚儀主要參數:
1、多鍍層分析，可分析鍍層1～5層(不含基材）；
2、測試示值：0.001 μm,最薄可測厚度為0.0125μm；
3、元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；
4、測量時間：10~30秒可選；
5、SDD探測器，能量分辨率為125eV；
6、探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；
7、微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）；
8、標配6個準直器及多個濾光片，且自動切換；
9、XYZ三維全自動移動平臺，荷載最*大為5公斤；
10、高清CCD攝像頭（200萬像素），準確監控位置；
11、多變量非線性去卷積曲線擬合；
12、高性能FP/MLSQ分析；
13、儀器尺寸：618×525×490mm；
14、樣品臺尺寸：230×220mm；
15、樣品臺移動范圍：前后左右各80mm、高度90mm；
16、樣品倉尺寸：395×400×102mm。
二、圖譜界面:
1、軟件支持無標樣分析；
2、寬大分析平臺和樣品腔；
3、集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面；
4、采用多種光譜擬合分析處理技術；
5、鍍層測厚分析精度可達到0.001μm。
三、分析報告結果:
1、直接打印分析報告；
2、報告可轉換為PDF，EXCEL格式。
四、iEDX-150T(S)薄金鍍層測厚儀樣品分析圖譜：
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