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隨著各行各業(yè)對電子產(chǎn)品的需求逐漸增加，電子元器件也逐漸變得更精密。對元器件的外觀或更精細(xì)的內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的觀察與檢測也成為了檢驗其品質(zhì)的關(guān)鍵。為加強(qiáng)技術(shù)交流，分享先進(jìn)的制樣方法經(jīng)驗。10月26日，電子樣品顯微切片與無損檢測技術(shù)研討會在松山湖材料實(shí)驗室圓滿落幕。
本次研討會主要是技術(shù)交流與現(xiàn)場上機(jī)操作指導(dǎo)。參會人員不僅能現(xiàn)場交流分析與探討電子樣品顯微切片與無損檢測技術(shù)，更能現(xiàn)場近距離體驗設(shè)備的操作與觀察樣品。
會議的開場由松山湖材料實(shí)驗室研究員胡偉老師致辭，歡迎各方到來的來賓參加此次會議，并對松山湖材料實(shí)驗室進(jìn)行介紹。
隨后由領(lǐng)拓的高級應(yīng)用工程師任飛霖講解了電子樣品切片分析的常見問題解析及應(yīng)用分享。再由領(lǐng)拓的高級應(yīng)用工程師鄒子康進(jìn)行電子樣品內(nèi)部無損檢測應(yīng)用分享。最后由徠卡的高級應(yīng)用工程師包沈源博士進(jìn)行離子研磨技術(shù)在電子元器件的應(yīng)用探討。上半場的會議既有深刻的理論深度，又有寶貴的應(yīng)用案例，干貨滿滿，獲得了現(xiàn)場參會人員的好評。
會議現(xiàn)場
下半場對松山湖材料實(shí)驗室進(jìn)行參觀，并進(jìn)行現(xiàn)場上機(jī)操作指導(dǎo)。參觀過程中，工作人員對松山湖材料實(shí)驗室現(xiàn)有的設(shè)備進(jìn)行了詳細(xì)介紹。同時，領(lǐng)拓的應(yīng)用工程師還為參觀人員現(xiàn)場演示了樣品的檢測過程，就現(xiàn)場參會人員咨詢的問題進(jìn)行了詳細(xì)解答及操作演示。
實(shí)驗室現(xiàn)場
為了感謝大家的到來，領(lǐng)拓團(tuán)隊還為現(xiàn)場的參會人員派發(fā)活動券，開展活動，現(xiàn)場氛圍活躍，大家都積極參與活動，爭當(dāng)幸運(yùn)兒。活動結(jié)束后還貼心的為大家準(zhǔn)備了茶歇以及午餐券。
活動
一等獎
二等獎
三等獎
領(lǐng)拓儀器對會議的安排以及在眾多設(shè)備的加持與公司實(shí)力的并存下，客戶的滿意度直線上升。不少參會人員表示有機(jī)會的話下次還會參加。
領(lǐng)拓儀器精彩不斷，只要您有檢測需求，領(lǐng)拓儀器即可為您定制專項分析檢測解決方案，期待下一個會議我們再相會。
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