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產品簡介
詳細介紹
電子設備高低溫測試設備主要用于檢測材料在各種環(huán)境下性能反應的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐濕、耐干、等性能反應。適合電子、電工、電器、手機、通訊、儀表、車輛配件、塑膠制品、金屬、光電、化學、建材、醫(yī)療、航天等行業(yè)產品及半成品檢測質量之用。
電子設備高低溫測試設備技術參數(shù):
1.標準型號和尺寸（也可按客戶要求生產）（單位:mm）：
型號 LQ-GD-80 內箱尺寸:W×H×D 400×500×400
型號 LQ-GD-150 內箱尺寸:W×H×D 500×600×500
型號 LQ-GD-225 內箱尺寸:W×H×D 500×750×600
型號 LQ-GD-408 內箱尺寸:W×H×D 600×850×800
型號 LQ-GD-800 內箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800
型號 LQ-GD-1000內箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000
2.溫度范圍：0℃/-20℃/-40℃/70℃～+150℃（風冷式）；
3.溫度精度：0.01℃；
4.-溫度波動度：±0.1℃；
5.溫度均勻度：±1℃；
6.升溫時間：平均約3℃/min，（非線性控制、空載）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；
7.降溫時間：平均約1℃/min，（非線性控制、空載）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；
8.噪音：≤75db；
性能指標符合
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)