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什么是離子遷移譜
閱讀：1805 發布時間：2024-2-20離子遷移譜(IMS)是大氣壓下的質譜。
IMS技術在小型化以及微型化方面則具有其之處：
第一，不需要真空系統，整個裝置可以做得很小。
第二，其靈敏度高，而質譜一般是微克(ug)量級，在不加任何富集的情況下，IMS就可以達到皮克(pg)量級，這些特點使得其很適合于現場在線快速分析;加上近幾年出現的更新探測器技術，又可能達到飛克(fg)量級;如果再加上新的手段，其在靈敏度上的前景就不可限。
第三，具有很好的結構區分性，能對同分異構體等實現很好的區分。
IMS原理很簡單，采用電離源將中性分子電離成離子，再在電場作用下漂移，不同的離子的遷移率不同，從而將其鑒別出來。
離子遷移譜儀的工作原理
離子遷移譜儀IMS采用的是目前較成熟的物理方法中的離子遷移譜(IMS)技術。IMS技術是從20世紀60年代作為一種常壓下檢測痕量氣態化學物質而發展起來的一門新的檢測技術。離子遷移譜技術的核心部件是漂移管,基本原理是:首先被檢測的樣品蒸汽或微粒氣化后經過一層半滲透膜濾除其中的煙霧、無機分子和水分子等雜質,然后被載氣攜帶進入漂移管的反應區,如圖1所示。在反應區內,樣品氣首先被63Ni放射源發射的射線電離,形成產物離子,在反應區電場的作用下,產物離子移向離子門。控制離子門的開關脈沖,形成周期性進入漂移區的離子脈沖。在漂移電場的作用下,產物離子沿軸向向收集電極漂移。離子的遷移率依賴于其質量、尺寸和所帶電荷。不同物質生成的產物離子在同一電場下的遷移率不同,因此通過整個漂移區長度所用的漂移時間也不同。在已知漂移區長度和漂移區內電場條件下,測量出離子通過漂移區到達收集電極所用的時間,就可以計算出離子的遷移率(遷移率的定義是指在單位電場強度作用下離子的漂移速度),從而可以辨識被檢測物種類;通過測量離子峰的面積,就可以估算出被檢測物的濃度;通過改變反應區和漂移區電場方向,IMS漂移管可以同時監測正負離子。因此,可以同時監測多種化學物質。
離子遷移譜儀的技術指標
技術指標離子源：脈沖輝光放電離子源。分析時間：分鐘級&。探測靈敏度：ppb，克倫特羅達到1ppb，達到0.5ppb&。工作電壓：220V/50Hz。預熱時間：30分鐘。設備接口：USB/以太網口/VGA。
離子遷移譜儀的主要功能
肉制品生產、加工與銷售企業乳制品生產、加工與銷售企業油脂生產、加工與銷售企業。蔬菜生產、加工與銷售企業。工商部門。第三方檢測部門。大專院校及科研機構實驗室。