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[供應(yīng)]SZ-M-3手持式四探針測試儀
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  • SZ-M-3手持式四探針測試儀
貨物所在地:
山東濟(jì)寧市
產(chǎn)地:
山東
更新時(shí)間:
2021-03-05 10:07:27
有效期:
2021年3月5日 -- 2021年9月3日
已獲點(diǎn)擊:
239
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產(chǎn)品簡介

SZ-M-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

詳細(xì)介紹

SZ-M-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

 

特點(diǎn):

儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動/自動轉(zhuǎn)換量程可選;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!

儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。

儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。

 

探頭選配:

根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配探頭,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

 

技術(shù)參數(shù):

1. 測量范圍、分辨率

    電    阻:   0.010 ~ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ~ 10 Ω

    電 阻 率:   0.010~ 20.00kΩ-cm,分辨率0.001 ~ 10 Ω-cm

    方塊電阻:   0.050~ 100.0kΩ/□   分辨率0.001 ~ 10 Ω/□

2. 可測材料尺寸

   手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺決定如下:

    直    徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm。

    SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。

    長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。.

    測量方位: 軸向、徑向均可.

3. 量程劃分及誤差等級

量程(Ω-cm/□)

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

電阻測試范圍

0.010~2.200

2.000~22.00

20.00~220.0

0.200~2.200k

2.000~50.00k

電阻率/方阻

0.010/0.050~2.200

2.000~22.00

20.00~220.0

0.200~2.200k

2.000~20.00k

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 適配器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電

5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重:≤0.3kg

 

成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。

 

 

 

 

 

SZ-M-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

 

SZ-M-2型手持式數(shù)字式四探針測試儀具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。

 

 

基本技術(shù)參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率

    電    阻:     0.010 ~ 9999Ω,    分辨率0.001 ~ 1 Ω

    電 阻 率:     0.010~ 2000Ω-cm, 分辨率0.001 ~ 1 Ω-cm

    方塊電阻:     0.050~ 2000Ω/□   分辨率0.001 ~ 1 Ω/□

2. 材料尺寸

   手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定

   直    徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm。

   SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。

   長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。.

   測量方位: 軸向、徑向均可.

3. 量程劃分及誤差等級

量程(Ω-cm/□)

9.999

99.99

999.9

9999.

電阻測試范圍

0.010~9.999

9.99~99.99

99.99~999.9

999.9~9999

電阻率/方阻

0.010/0.050~9.999

9.99~99.99

99.99~999.9

999.9~2000

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 適配器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電

5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈   重:≤0.5kg

 

探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配探頭,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

 

配ST2253-F01測硅片電阻率

配ST2253-F01測硅片電阻率

 

儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。

主機(jī)主要由數(shù)控恒流源,高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,自動轉(zhuǎn)換量程。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用一旋鈕輸入;具有零位、滿度自校功能;全自動轉(zhuǎn)換量程;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!

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