全新的徠卡清潔度解決方案：快速識別污染源
可同時實現顆粒物視覺和化學分析的二合一系統(tǒng)
在清潔度分析過程中，必須盡可能快地找出污染源。徠卡顯微系統(tǒng)推出的清潔度專家解決方案現可為您提供更深入的顆粒物分析。它不僅能對顆粒物執(zhí)行自動檢測、計數、分析和分類 (按照其導致?lián)p害的危險度)，還能同時確定顆粒物的成分。如今，您在搜尋污染源時可節(jié)省 90% 的時間。此外，您可在同一工作場所完成全部分析。
這樣有什么意義呢？
您可在數秒鐘內掌握所有相關信息，找出影響產品性能和壽命的顆粒物的來源。您可更快地消除這些顆粒物，以符合日趨嚴格的 VDA 19 和 ISO 標準。在定位顆粒物來源上節(jié)省時間也能促成更具經濟效益的清潔度分析。
那如何實現這一目標呢？
將顯微技術與激光光譜技術相結合。運行徠卡清潔度專家軟件的 DM6 M 顯微鏡中集成了 LIBS (激光誘導擊穿光譜) 系統(tǒng)。這種二合一解決方案允許您使用同一臺儀器執(zhí)行視覺和化學分析。
由此，您可將清潔度分析流程縮減為一步，并避免使用電子顯微鏡 (SEM/EDS) 等手段執(zhí)行代價高昂的下游分析。
全新徠卡清潔度解決方案帶給您的優(yōu)勢：
利用快捷的化學分析更快地找出污染源
在內部完成所有步驟，省時省錢
盡量減少甚至不用 SEM/EDS 進行深入分析
- 無需額外的濾片樣品制備或轉移到其它設備
- 無需重新定位感興趣區(qū)域或調節(jié)系統(tǒng)
更快更輕松地執(zhí)行清潔度分析。請在網站上進一步了解我們全新的清潔度專家及 LIBS 二合一解決方案。或者也可聯(lián)系當地的徠卡顯微系統(tǒng)有限公司銷售代表了解詳情。
8
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務