MtiinstrumentsAS-9000電容傳感器           MtiinstrumentsAS-9000電容傳感器

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MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板。MTI放大器將間隙的電容轉換成與間隙成正比的輸出電壓。電容測量非常穩定，可與干涉儀的精度媲美。電容不受溫度、濕度和壓力的不利影響MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板。MTI放大器將間隙的電容轉換成與間隙成正比的輸出電壓。電容測量非常穩定，可與干涉儀的精度媲美。電容不受溫度、濕度和壓力的不利影響MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板。MTI放大器將間隙的電容轉換成與間隙成正比的輸出電壓。電容測量非常穩定，可與干涉儀的精度媲美。電容不受溫度、濕度和壓力的不利影響MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板。MTI放大器將間隙的電容轉換成與間隙成正比的輸出電壓。電容測量非常穩定，可與干涉儀的精度媲美。電容不受溫度、濕度和壓力的不利影響MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板。MTI放大器將間隙的電容轉換成與間隙成正比的輸出電壓。電容測量非常穩定，可與干涉儀的精度媲美。電容不受溫度、濕度和壓力的不利影響MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板。MTI放大器將間隙的電容轉換成與間隙成正比的輸出電壓。電容測量非常穩定，可與干涉儀的精度媲美。電容不受溫度、濕度和壓力的不利影響MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板。MTI放大器將間隙的電容轉換成與間隙成正比的輸出電壓。電容測量非常穩定，可與干涉儀的精度媲美。電容不受溫度、濕度和壓力的不利影響MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型的系統中，MTII的電容探頭充當板之一，接地靶作為另一個板