MtiinstrumentsASP-1250M-CTA電容探針    MtiinstrumentsASP-1250M-CTA電容探針

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MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探頭長期以式測量手段。在一個典型與目標表面之間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目標表面之間形成的電壓力的地靶作為另一個板為了消除這些變化的影響MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探頭長期以式測量手段。在一個典型與目標表面之間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探頭長期以式測量手段。在一個典型與目標表面之間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。