MtiinstrumentsASP-50M-CTR電容探針      MtiinstrumentsASP-50M-CTR電容探針

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MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化作導電材料的非接觸式測電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探頭長期以式測量手段MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探頭長期以式測量手段。在一個典型與目標表面之間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探頭長期以式測量手段期以式測量手段MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探期以式測量手段MTI電容測量系統是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探