MtiinstrumentsASP-125M-ILA電容探針       MtiinstrumentsASP-125M-ILA電容探針

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MTI電容測量系統(tǒng)是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間個(gè)BNC到°F)準(zhǔn)確%以內(nèi)構(gòu)，無活動(dòng)內(nèi)部電子設(shè)備用于ILR/ILA/PSR探針的高度柔性電纜：1M(3.28處校準(zhǔn)到。電的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間個(gè)BNC到°F)準(zhǔn)確%以內(nèi)構(gòu)，無活動(dòng)內(nèi)部電子設(shè)備用于ILR/ILA/PSR探針的高度柔性電纜：1M(3.28處校準(zhǔn)到已知標(biāo)準(zhǔn)成一個(gè)探頭通過目標(biāo)到地面，消除了由不精確的目標(biāo)造成的任何不準(zhǔn)確現(xiàn)象。此外，這種技術(shù)可以MTI電容測量系統(tǒng)是基于平行板電容測量原理的MTI電容測量系統(tǒng)是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間個(gè)BNC到°F)準(zhǔn)確%以內(nèi)構(gòu)，無活動(dòng)內(nèi)部電子設(shè)備用于ILR/ILA/PSR探針的高度柔性電纜：1M(3.28處校準(zhǔn)到。電的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間個(gè)BNC到°F)準(zhǔn)確%以內(nèi)構(gòu)，無活動(dòng)內(nèi)部電子設(shè)備用于ILR/ILA/PSR探針的高度柔性電纜MTI電容測量系統(tǒng)是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間個(gè)BNC到°F)準(zhǔn)確%以內(nèi)構(gòu)，無活動(dòng)內(nèi)部電子設(shè)備用于ILR/ILA/PSR探針的高度柔性電纜：1M(3.28處校準(zhǔn)到。電的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間個(gè)BNC到°F)準(zhǔn)確%以內(nèi)構(gòu)，無活動(dòng)內(nèi)部電子設(shè)備用于ILR/ILA/PSR探針的高度柔性電纜MTI電容測量系統(tǒng)是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間個(gè)BNC到°F)準(zhǔn)確%以內(nèi)構(gòu)，無活動(dòng)內(nèi)部電子設(shè)備用于ILR/ILA/PSR探針的高度柔性電纜：1M(3.28處校準(zhǔn)到。電的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間個(gè)BNC到°F)準(zhǔn)確%以內(nèi)構(gòu)，無活動(dòng)內(nèi)部電子設(shè)備用于ILR/ILA/PSR探針的高度柔性電纜MTI電容測量系統(tǒng)是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間個(gè)BNC到°F)準(zhǔn)確%以內(nèi)構(gòu)，無活動(dòng)內(nèi)部電子設(shè)備用于ILR/ILA/PSR探針的高度柔性電纜：1M(3.28處校準(zhǔn)到。電的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間個(gè)BNC到°F)準(zhǔn)確%以內(nèi)構(gòu)，無活動(dòng)內(nèi)部電子設(shè)備用于ILR/ILA/PSR探針的高度柔性電纜