XD-1000型鍍層測厚儀的優(yōu)勢特點介紹

閱讀：2189 發(fā)布時間：2023-1-9

鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

XD-1000型鍍層測厚儀對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。

優(yōu)勢特點介紹：

可靠的高性能：測試精度、穩(wěn)定性高，在提供高質(zhì)量的同時減少浪費和停機(jī)時間。

更高的性價比：制造工藝升級，更具性價比，大大節(jié)省使用成本。

前沿檢測技術(shù)：高級成垂直光路系統(tǒng)，采用*解譜技術(shù)和影像識別算法，實現(xiàn)精準(zhǔn)、快速、智能、自動檢測，滿足企業(yè)檢測需求。

使用壽命更長：模塊化設(shè)計，聚焦節(jié)能，搭載自動休眠模式，延長使用壽命。

核心EFP算法：*EFP算法不但對多層測試精準(zhǔn)、校準(zhǔn)方便，而且解決了多層合金、上下元素重復(fù)鍍層及滲層的檢測難題。

四焦一體裝置：搭載高集成四焦技術(shù)，可測量最大90mm深度的凹槽高低落差異形件。

上照式設(shè)計：上下位機(jī)管理分工，可實現(xiàn)對超大型工件的快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效測量。

適用性強(qiáng)：精準(zhǔn)測量各類金屬鍍層厚度的同時可對電鍍液進(jìn)行分析。

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