您好, 歡迎來到化工儀器網
HB PRODUCTS中國總代理HB PRODUCTS
用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
產品分類品牌分類
-
ECKERLE Gigahertz SIKA Richter siebert PEWA ewo SUN-Control-Analytik RKS Compro Jola佐拉 RNA ProMinent普羅名特 gestra Labom LUMIMAX Janitza Sauter micronext PMA GGB RAFI Indu-Sol stein sohn SARTORIUS賽多利斯 JUGITEC EATON Seikom Hiessl specken drumag DELTA LOGIC Elstein iiM Formech MAXOS HB PRODUCTS OPTEL THEVON FUSS-EMV福斯 Mingardi Waldmann沃達邁 SICK施克 PFANNENBERG varem Innovatek Norelem Kraus&Naimer KEB MAXIMATOR Isoloc WOELKE enna Allied Vision ZTR WORNER Witt WOERNER Warmbier VAHLE UNITEK TWK trelleborg timmer蒂默 Steuber STEMMER IMAGING ASS Staubli史陶比爾 SPECK SIKO斯科 SEIKA SCHUNK雄克 Rübsamen&Herr ROPEX ROEMHELD羅姆希特 RINGSPANN Rala R+L HYDRAULICS ODU歐度 Nöding megatron威震天 Mayser mayr LUMBERG隆堡 KUHNKE昆科 KENDRION康德瑞恩 JUNG IWN HMS Burkert寶德 Heidenhain海德漢 HAHN-GASFEDERN gunther GRAFF EA GEFEG-NECKAR FREUDENBERG科德寶 elero burster波司特 Baumer堡盟 ActiveKey Eisele艾斯勒 STOTZ quintest VESTER walther瓦爾特 camille bauer ELEKTROR HBM VEIT GEORGII KOBOLD Schönbuch Electronic ZIEHL-ABEGG SUCO蘇克 TKM STRACK HAUG豪格 RECHNER瑞奇能 RIEGLER瑞格勒 PHOENIX菲尼克斯 DOLD多德 Leuze Wenglor威格勒 Puls普爾世 EGE Zimmer schmidt+sohn PILZ皮爾茲 西德福STAUFF SCHMERSAL施邁賽 賀德克HYDAC JUMO MADER CHERRY di-soric Euchner 哈威HAWE 威聲microsonic 力士樂Rexroth 德國寶德BURKERT
產品簡介
詳細介紹
HB PRODUCTS中國總代理HB PRODUCTS詢價請請加q 9439-62050
CO 2液體開關-低溫
技術數據：HBSC2-SSR-1 / IP
帶有內置加熱器的HBSC2-SSR-1 / IP制冷劑開關可防止低溫冷凝。該開關適用于冰柜和室外應用。它通常用于控制向分離器供應的制冷劑液體。它還用于控制熱氣除霜期間液體制冷劑的排放。
HB PRODUCTS中國總代理HB PRODUCTS
電子固態輸出和觸點功能為常開或常閉的可靠設計。
專為工業制冷行業而設計-大壓力高達150 bar。
液位檢測時清除LED指示。
分體式設計，可以在不排空制冷劑箱的情況下進行安裝和診斷。只需轉動兩個小螺絲就可以卸下電子零件。
關于HB產品
HB Products是一家以發展為導向的丹麥公司，專門從事工業和商業制冷和熱泵系統傳感器的開發和生產。在HB Products，我們致力于為能效蒸發器控制，液位控制和油管理提供佳解決方案。
除了在油和制冷劑控制方面的專業知識外，我們在工業和商業制冷系統的設計和優化方面擁有豐富的專業知識。這些知識使我們能夠開發和生產好的傳感器！
自25年前成立以來，HB Products已在占據穩固的地位。這是我們有能力根據新技術解決方案進行思考，創建可信賴的產品并提供高水平服務的結果。
從構想到終產品
 | 開發與建設： HB Products不斷與新產品的開發和設計合作-采用新材料和新功能。通過使用新的構造工具，可以將構思轉換為規格和圖片，然后 在生產中使用。 |
 | 技術和工藝： HB Products負責傳感器和控制模塊的生產。在制造過程中，我們采用工匠的方法進行工作，但是在許多生產領域中，我們都使用了現代化且高效的制造技術。 這樣可以確保質量達到小的細節。良好的電子制造商 |
 | 測試和質量控制：所有新開發的產品在被批準出售之前，都經過嚴格的測試程序和廣泛的質量控制。 |
 | 校準：為了保證產品具有精確的功能和佳的測量能力，在將每種產品發送到常規質量控制之前，都要對其進行校準。 |
HB PRODUCTS SLCD-M1/25/Ex 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SLCD-M1/25/Ex 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSO2-PNP/NO-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSO2-PNP/NO-2 HBS0-20 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS VU150617 HBS0-20 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SLCD-M1/25 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLS/10.05/MK 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLS/10.05/MK 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SLCP-M1/25/EX 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SLCD-M1/25/Ex Atex 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SLCD-M1/25/Ex UL 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS 72020612 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLC-HFC-17-6 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SA96DX-1/EX including safety barrier 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SA96DX-1/EX without safety barrier 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SA96DX-1/EX 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLT-A1-65U 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS FSY09604D25C 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS Y096D25 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS LLCD-M1 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SA96DX-I/Ex 5061230 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS 652600156 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSR-PNP/NO-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSR-NPN/NC-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSO1-SSR-2/NC-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSO1-NPN/NO-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSO1-NPN/NC-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBOR-NPN/NO-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS MVS661.25-1.0N 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS MVS661.25-0.4N 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSR-SSR-2/NC-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSO1-SSR-2/NO-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLT-Wire-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLC-NH3-3.1-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLT-A1B-10 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSC2-PNP/NO-2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSC2-CO2 SWITCH 24V VU150416 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLT-A1-Levdl 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLT-A1-LEVEL 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLS-SSI-M12-0400-S-M12 400MM 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SA96DX-1/EX 400MM 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLS 400mm 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS SA96DX-I/EX 0-400mm 4-20mA 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBDX-IN-DN25 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBLT-A1 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBSO1-PNP/ 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS Niveausonde 4−20 mA HBLT−WIRE−2 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HBS01 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量
HB PRODUCTS HB0C 用途：數控機床用，功能：檢測機械位移量；原理：機械的位移引起電位器移動從而導致電阻變化，通過檢測電阻變化測量位移量