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CME-Mo系列光譜儀/單色儀特點：
◆ 150mm，300mm，500mm，750mm等多種焦距可選，適應不同光譜帶寬需求；
◆光學結構采用經典的Czerny-Turner結構，有效改善譜線對稱性和提高光學分辨率，消二次色散設計，有效抑制雜散光；
◆多光柵塔臺設計，更好的發揮了儀器覆蓋UV-VIS-IR全波段光譜范圍的優勢，并可根據需要組合以滿足不同；
◆光柵采用大面積光柵，有效提高了收集光效率；
◆多種光柵可以選擇，適應不同光譜波段，覆蓋UV-VIS-IR范圍；
◆針對紅外（>1μm）波段的*化設計，光學鏡片采用鍍金膜設計，提高紅外光反射效率；
◆儀器的控制（如光柵轉換、波長掃描等）全部由計算機控制；
◆全新的DSP芯片設計使得出入口的選擇更加具有靈活性，可根據需要選擇雙入-出口；雙入-出口的控制通過計算機軟件自動控制，定位更精準；
◆可連接我公司任意一款單點探測器和其它附件，還可以連接線陣、面陣探測器做攝譜儀使用。與光源、探測器（單點探測器和陣列CCD等）組合搭建，實現任意光譜系統組合方案，如熒光、拉曼、透射/反射、吸收光譜及光源發射光譜系統等；
◆配有充氮氣專用口，便于在紫外和近紅外有大氣吸收譜的波段范圍內使用；
◆光學室和機械傳動室嚴格分開，避免后者產生雜散光及潤滑油微量揮發對光學件的污染；
◆可選：自動濾光輪、電子快門、自動狹縫。
技術參數表（@1200g/mm光柵條件下）
CME-Mo150 | CME-Mo300 | CME-Mo500 | CME-Mo750 | |
λ焦距(mm) | 150 | 300 | 500 | 750 |
相對孔徑 | f/4.2 | f/3.9 | f/6.5 | f/9.7 |
光學結構 | C-T | |||
機械掃描范圍(nm) | 0-2200 | 0-3200 | ||
分辨率(nm) | 0.4 | 0.1 | 0.05 | 0.03 |
倒線色散(nm/mm) | 5.4 | 2.7 | 1.7 | 1.1 |
波長準確度(nm) | ±0.25 | ±0.2 | ||
波長重復性(nm) | ±0.1 | ±0.1 | ||
掃描步距(nm) | 0.01 | 0.005 | ||
焦面尺寸(mm) | 25(W)×10(H) | 25(W) ×14(H) | ||
光軸高度(mm) | 134 | |||
狹縫規格 | 縫寬：0.01-3mm連續手動可調，可選配自動狹縫；縫高：2，4，10，14mm可選。 | |||
光柵尺寸(mm) | 32×32 | 68×68 | ||
光柵臺 | 雙光柵 | 三光柵 | ||
外型尺寸(mm) | 298×200×185 | 390×278×204 | 560×320×204 | 800×450×204 |
重量(kg) | 10 | 16 | 22 | 32 |
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