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詳細介紹
一、X-RAY膜厚測試儀XRF-2000測厚儀檢測范圍
1、檢測電子電鍍，五金電鍍，LED支架，端子連接器，半導體等電鍍層厚度
2、X-RAY膜厚儀快速無損檢測電子電鍍層厚度(Micro pioneer XRF-2020/XRF-2000)
3、可測單鍍層，雙多鍍層，多鍍層及合金鍍層
（1）鍍銀測量范圍0.1-50um
?。?）鍍鎳測量范圍0.5-30um
?。?）鍍銅測量范圍0.5-30um
（4）鍍錫測量范圍0.5-50um
?。?）鍍金測量范圍0.02-6um
?。?）鍍鋅測量范圍1-30um
?。?）鋅鎳合金測量范圍1-25um
?。?）鍍鉻測量范圍0.5-25um
4、儀器全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量
5、多個準直器可選擇：0.1mm，0.2mm，0.3mm，0.4mm，0.03×0.5mm
6、可配多個或單個準直器，準直器大小可自動切換
二、韓國先鋒XRF-2020L型H型功能特點：
1、全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量；
2、儀器全系均為全自動臺，自動雷射對焦；
3、多點自動測量；
4、可配多個或單個準直器，準直器大小可自動切換；
5、快速無損測量電鍍層厚度，可測單鍍層，雙鍍層，多層鍍層及合金鍍層。
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