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詳細介紹
X射線鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀XRF-2020
韓國Micropioneer
測量單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
鍍銀測量范圍0.1-50um
鍍鎳測量范圍0.5-30um
鍍銅測量范圍0.5-30um
鍍錫測量范圍0.5-50um
鍍金測量范圍0.02-6um
鍍鋅測量范圍1-30um
鋅鎳合金測量范圍1-25um
鍍鉻測量范圍0.5-25um
X射線鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀XRF-2020
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
功能特點：
XRF-2002膜厚儀X射線熒光法，該技術已經被證實并且得到廣泛應用
可在建立測量曲線存儲的情況下提供易于操作、快速和無損的電鍍鍍層厚度的測量。
范圍包括從元素周期表中的Ti 22到 U92
XRF-2020具有大小不同的樣品艙:
廣泛應用在電子電鍍,五金端子連接器,半導體框架,PCB板等
行業,快速無損測量鍍金,銀,鎳,錫,鋅,銅,鋅鎳合金等
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