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X射線鍍層測厚儀原理及應用
韓國微先鋒XRF-2020測厚儀
X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
規格型號如下圖
XRF-2020鍍層測厚儀
原產地：韓國
品牌：Micropioneer微先鋒
型號：XRF-2020
適應于各類五金電鍍,電子連接器端子等。
可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鈀,銠,鉑,鋅鎳合金等鍍層。
應用廣泛，適應電鍍生產企業，產品來料檢測等。
儀器特點:
全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量
功能及應用：
檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器,線路板,半導體等膜厚
可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限底材。
單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等
雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等
多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?合金鍍層：
鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等
測量精度：
表層：±5%以內，第二層：±10%以內，第三層：±15%以內
型號規格
L型：測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg
X射線鍍層測厚儀原理及應用
韓國微先鋒XRF-2020儀器整機*
配置全自動臺面，自動雷射對焦,多實現多點自動測量
X射線無損鍍層測厚儀：多功能、高精度、使用方便快捷。測量時間只需10秒：
可測0.03um-35um，精度可達正負5%以內適用范圍廣、操作簡便
是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。
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