隨著集成電路封裝技術(shù)向高密度、高性能方向發(fā)展，鍵合線的可靠性問題日益成為影響封裝質(zhì)量的關(guān)鍵因素。銀線、銅線以及各類合金鍵合線因其優(yōu)異的導(dǎo)電性、導(dǎo)熱性和成本優(yōu)勢(shì)，在IC封裝領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。

然而，這些鍵合線在熱機(jī)械應(yīng)力、電遷移等作用下可能出現(xiàn)斷裂、剝離等失效現(xiàn)象，直接影響器件的長期可靠性。本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將詳細(xì)介紹鍵合線失效分析的原理、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、儀器特點(diǎn)及完整測(cè)試流程，助力企業(yè)解決封裝可靠性難題。

一、鍵合線失效分析原理

鍵合線失效機(jī)理主要涉及以下幾種模式：

機(jī)械斷裂失效：鍵合線在循環(huán)應(yīng)力作用下產(chǎn)生疲勞裂紋并最終斷裂

界面剝離失效：鍵合線與焊盤間的金屬間化合物(IMC)層生長導(dǎo)致結(jié)合強(qiáng)度下降

頸縮斷裂失效：鍵合線在高溫下發(fā)生蠕變導(dǎo)致局部截面縮小而斷裂

腐蝕失效：環(huán)境因素導(dǎo)致鍵合線表面腐蝕而強(qiáng)度降低

推拉力測(cè)試通過模擬這些失效模式，定量評(píng)估鍵合線的機(jī)械可靠性。測(cè)試基本原理是：

鍵合強(qiáng)度 = 最大破壞力 / 鍵合接觸面積

二、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

三、檢測(cè)設(shè)備

1、Alpha W260推拉力測(cè)試機(jī)

Alpha W260推拉力測(cè)試機(jī)是專為微電子封裝可靠性測(cè)試設(shè)計(jì)的高精度設(shè)備，特別適合紅外探測(cè)器芯片的測(cè)試需求：

1、設(shè)備特點(diǎn)

高精度：全量程采用自主研發(fā)的高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

功能性：支持多種測(cè)試模式，如晶片推力測(cè)試、金球推力測(cè)試、金線拉力測(cè)試以及剪切力測(cè)試等。

操作便捷：配備專用軟件，操作簡(jiǎn)單，支持多種數(shù)據(jù)輸出格式，能夠wan美匹配工廠的SPC網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)。

2、多功能測(cè)試能力

支持拉力/剪切/推力測(cè)試

模塊化設(shè)計(jì)靈活配置

3、智能化操作

自動(dòng)數(shù)據(jù)采集

SPC統(tǒng)計(jì)分析

一鍵報(bào)告生成

4、安全可靠設(shè)計(jì)

獨(dú)立安全限位

自動(dòng)模組識(shí)別

防誤撞保護(hù)

5、夾具系統(tǒng)

多種規(guī)格的剪切工具（適用于不同尺寸焊球）

鉤型拉力夾具

定制化夾具解決方案

四、測(cè)試流程

步驟一、樣品準(zhǔn)備

按標(biāo)準(zhǔn)要求取樣（通常≥30個(gè)鍵合點(diǎn)）

清潔樣品表面污染物

定位標(biāo)記待測(cè)鍵合點(diǎn)

步驟二、測(cè)試程序

剪切測(cè)試模式：

選擇合適剪切工具（通常為50μm刀口）

設(shè)置剪切高度（鍵合點(diǎn)高度+5μm）

以100-500μm/s速度推進(jìn)至鍵合點(diǎn)破壞

步驟三、拉力測(cè)試模式

安裝匹配的拉力鉤具鉤住鍵合線弧頂

以0.1-10mm/min速度垂直拉伸至斷裂

步驟四、數(shù)據(jù)分析

原始數(shù)據(jù)篩選（剔除異常值）

Weibull分布分析

失效模式分類：

界面失效（低強(qiáng)度值）

線材斷裂（中等強(qiáng)度）

基板破壞（高強(qiáng)度值）

步驟五、報(bào)告生成

測(cè)試條件記錄（溫濕度、設(shè)備參數(shù)等）

統(tǒng)計(jì)結(jié)果（均值、標(biāo)準(zhǔn)差、CPK等）

失效模式比例分析

改進(jìn)建議

五、典型失效案例分析

案例1：銅鍵合線高溫存儲(chǔ)后強(qiáng)度下降

現(xiàn)象：150℃/1000h后拉力值降低30%

分析：IMC層過度生長導(dǎo)致脆性斷裂

對(duì)策：優(yōu)化退火工藝，控制IMC厚度<2μm

案例2：合金鍵合線批量剪切失效

現(xiàn)象：剪切強(qiáng)度離散度大(CPK<1.0)

分析：焊盤污染導(dǎo)致界面結(jié)合不良

對(duì)策：加強(qiáng)前清洗工藝，增加等離子處理

以上就是小編介紹的有關(guān)于IC封裝中銀線、銅線、合金線失效分析的相關(guān)內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭Ｈ绻€對(duì)IC封裝中銀線、銅線、合金線失效分析方法、測(cè)試報(bào)告和測(cè)試項(xiàng)目，推拉力測(cè)試機(jī)怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項(xiàng)、作業(yè)指導(dǎo)書，原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻，推拉力測(cè)試儀操作規(guī)范、使用方法和測(cè)試視頻，焊接強(qiáng)度測(cè)試儀使用方法和鍵合拉力測(cè)試儀等問題感興趣，歡迎關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言。【科準(zhǔn)測(cè)控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測(cè)試機(jī)在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點(diǎn)、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。