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行業(yè)產(chǎn)品

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[供應]S系列-microled電性能IV掃描測試用源表
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  • S系列-microled電性能IV掃描測試用源表
貨物所在地:
湖北武漢市
產(chǎn)地:
武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)
更新時間:
2025-07-08 13:55:39
有效期:
2025年7月8日 -- 2025年10月8日
已獲點擊:
137
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(聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!)

產(chǎn)品簡介

microled電性能IV掃描測試用源表認準普賽斯儀表,國產(chǎn)自主研發(fā),性價比高,測試范圍更廣,輸出電壓高達300V,支持USB存儲,一鍵導出報告

詳細介紹

microled電性能IV掃描測試用源表認準武漢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表S系列源表是普賽斯歷時多年打造的高精度、大動態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的*國產(chǎn)化的源表,集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,最大輸出電壓達300V,最小測試電流達100pA,支持四象限工作,因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:

產(chǎn)品簡介

S系列源表是普賽斯歷時多年打造的高精度、大動態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的*國產(chǎn)化的源表,集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,最大輸出電壓達300V,最小測試電流達100pA,支持四象限工作,因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:半導體IC或元器件,功率器件,傳感器,有機材料與納米材料等特性測試和分析。


產(chǎn)品特點

  • 5寸800*480觸摸顯示屏,全圖形化操作

  • 內(nèi)置強大的功能軟件,加速用戶完成測試,如LIV、PIV

  • 源及測量的準確度為0.1%,分辨率5數(shù)位

  • 四象限工作(源和肼),源及測量范圍:電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V

  • 豐富的掃描模式,支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描

  • 支持USB存儲,一鍵導出測試報告

  • 支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng)





    技術參數(shù)

量大輸出功率:30W,四象限源和肼模式

源限度

電壓源: 士30V (≤1A量程) , 士300V (≤100mA量程) ;

電流源

士1.05A(≤30V量程),士105mA (≤300V量程) ;

過量程

105%量程,源和測量;

穩(wěn)定負載電容

<22nF ;

寬帶噪聲(20MHz)

2mVRMS(典型值),<20mVVp-p(典型值);

線纜保護電壓

輸出阻抗1K9 ,輸出電壓偏移<80uV ;

最大采樣速率

1000采樣點/秒;

觸發(fā)

支持IO觸發(fā)輸入及輸出,觸發(fā)極性可配置;

輸出接口

前后面板香蕉頭插座輸出,同- -時刻只能用前或者后面板接口;

通信口

RS-232、GPIB、 以太網(wǎng);

電源

AC 100~ 240V 50/60Hz ;

工作環(huán)境

25+10°C ;

尺寸

106mm高x 255mm寬x 425mm長;

重量

5Kg ;

質(zhì)保期

1年;


電壓及電流精度:(不同型號電壓量程由差異,以選型指南為準)

電壓

測量

量程

分辨率

準確度±(% rdg.+volts)

分辨率

準確度±(% rdg.+volts)

300mV

30uV

0.1%±300uV

30uV

0.1%±300uV

3V

300uV

0.1%±500uV

300uV

0.1%±500uV

30V

3mV

0.1%±3mV

3mV

0.1%±3mV

300V

30mV

0.1%±30mV

30mV

0.1%±30mV

電流

測量

量程

分辨率

準確度±(% rdg.+A)

分辨率

準確度±(% rdg.+A)

100nA

10pA

0.1%±0.5nA

10pA

0.1%±0.5nA

1uA

100pA

0.1%±3nA

100pA

0.1%±3nA

10uA

1nA

0.1%±5nA

1nA

0.1%±5nA

100uA

10nA

0.1%±50nA

10nA

0.1%±50nA

1mA

100nA

0.1%±300nA

100nA

0.1%±300nA

10mA

1uA

0.1%±5uA

1uA

0.1%±5uA

100mA

10uA

0.1%±20uA

10uA

0.1%±20uA


產(chǎn)品應用

  • 分立半導體器件特性測試,電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件;

  • 能量與效率特性測試,LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等

  • 傳感器特性測試,電阻率、霍爾效應等

  • 有機材料特性測試,電子墨水、印刷電子技術等

  • 納米材料特性測試,石墨烯、納米線等



•有關microled電性能IV掃描測試用源表的更多信息請咨詢生產(chǎn)廠家普賽斯儀表專員為您解答



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