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硅晶片內部檢查和背面圖案的觀察用近紅外鹵素光源
閱讀：1109 發布時間：2021-11-9硅晶片內部檢查和背面圖案的觀察用近紅外鹵素光源
SIS-150 (-NIR / -AIR)
近紅外線照射裝置
在近紅外線區域有峰值的光纖光源裝置。
通過與專用光學系統和對近紅外區域敏感的相機一起使用，它
非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。
專用選件
* 可安裝波長選擇帶通濾波器
*可安裝機械快門
*可安裝256 級數字調光板
* Anadigi 調光板（控制電壓（0-5V））
* 并行調光板（并行 8bit 數字信號） ))
* 串口調光板（RS232C串口8bit數字信號）
近紅外線照射裝置
在近紅外線區域有峰值的光纖光源裝置。
通過與專用光學系統和對近紅外區域敏感的相機一起使用，它
非常適合無損檢測，例如硅晶片的內部檢查和背面圖案的觀察。
專用選件
* 可安裝波長選擇帶通濾波器
*可安裝機械快門
*可安裝256 級數字調光板
* Anadigi 調光板（控制電壓（0-5V））
* 并行調光板（并行 8bit 數字信號） ))
* 串口調光板（RS232C串口8bit數字信號）
| 模型 | SIS-150-NIR | SIS-150-空氣 |
|---|---|---|
| 額定輸入電壓 | AC100-240V | AC100-240V |
| 額定輸入頻率 | 50 / 60Hz | 50 / 60Hz |
| 照明方式 | 直流照明方式 | 直流照明方式 |
| 光強調節 | 可變輸出電壓 可變 電壓范圍：DC2V 至 15V 可變光強范圍：0.1% 至 100% | 可變輸出電壓 可變 電壓范圍：DC2V 至 15V 可變光強范圍：0.1% 至 100% |
| 保護功能 | 過流保護電路（重新上電 恢復） 過熱保護電路（自動恢復） | 過流保護電路（重新上電 恢復） 過熱保護電路（自動恢復） |
| 冷卻方式 | 強制風扇冷卻 | 強制風扇冷卻 |
| 工作溫度/濕度 | 0°C-40°C/20%-80%RH（但不結露） | 0°C-40°C/20%-80%RH（但不結露） |
| 功能 | 燈管燒毀信號輸出：集電極開路/發射器 模擬信號電壓調光：DC0至5V輸入 遠程燈開/關：通過施加DC5V關閉 | 燈管燒毀信號輸出：集電極開路/發射器 模擬信號電壓調光：DC0至5V輸入 遠程燈開/關：通過施加DC5V關閉 |
| 外形尺寸 | W124 x H165 x D224 mm（不包括突出部分的尺寸） | W124 x H165 x D224 mm（不包括突出部分的尺寸） |
| 重量 | 約2.7kg | 約2.7kg |
| 照射波長 | 400-1100nm | 400-1700nm |
| 峰值波長 | 800納米 | 1000納米 |
| 光導 | 標準規格 | 專用耐熱光導 |