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日本檢查燈185le與YP-150I的檢測差別
閱讀：1311 發布時間：2022-4-22日本檢查燈185le與YP-150I的檢測差別
185le
適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。
標準構成如下。
光源：直流點燈 17V/185W 鹵素燈
冷卻方式：強制空冷
電源電圧：AC 95V～AC 260V，50/60Hz
尺寸：光源 136mm H×112mm W×150mm D
重量：光源2.3kg
立桿5.0kg
高照度照明設備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。
適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業。
高照度照明設備(表面檢查燈) 185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。
適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行業。
大照度 | 照射距離 310mm、 照射直徑徑 55mmφ 時照度在 400,000 Lux以上） | |
光源 | 直流點燈 17V/185W 鹵素燈 | |
照度調整 | 連續可調至大照度的 20% | |
冷卻方式 | 強制空冷 | |
使用溫度范囲 | 0 ～ 40℃ | |
電源電圧 | AC 95V ～ AC 260V, 50/60Hz | |
功率 | 250W | |
尺寸 | 光源 | 136mm H × 112mm W × 150mm D |
電源 | 229mm H × 90mm W × 250mm D | |
重量 | 光源 | 2.3kg |
電源 | 3.6kg | |
立桿 | 5.0kg | |
半導體晶圓的加工用高亮度鹵素光源裝置-YP-150I/YP-250I
高亮度鹵素光源設備是 一種宏觀觀察照明設備，用于檢測各種缺陷，
例如異物，劃痕，拋光不均勻，霧度和最終成品表面上的打滑，這在半導體晶圓的加工過程中是最費力的工作和液晶基板.
概述
1.樣品表面的照明度可達到400,000 Lx以上。
2.由于使用鹵素燈作為光源，因此色溫高，幾乎沒有不均勻的照明，并且照明
非常穩定且清晰。
3.通過使用冷鏡，可以將熱量的影響極大地
降低到傳統鋁鏡的1/3 。
4.兩階段切換機制使您可以通過一次觸摸在高光觀察和低光觀察之間進行切換
。
YP-150I ? ? ?照度范圍φ30YP-250I ? ?
?照度范圍φ60
（YP-250I可以從螺旋槳式風扇和風管式風扇中選擇）。
標準構成如下。
照度：照射距離 310mm、照射直徑徑 55mmφ時照度在 400，000 Lux以上）
光源：直流點燈 17V/185W 鹵素燈
照度調整：連續可調至照度的 20%
冷卻方式：強制空冷
使用溫度范囲：0～40℃
電源電圧：AC 95V～AC 260V，50/60Hz
功率：250W
尺寸：光源 136mm H×112mm W×150mm D
電源 229mm H×90mm W×250mm D
重量：光源2.3kg
電源3.6kg
立桿5.0kg