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可同時(shí)檢測反射率和透射率的薄膜測厚技術(shù)
閱讀：1302 發(fā)布時(shí)間：2022-4-26可同時(shí)檢測反射率和透射率的薄膜測厚技術(shù)
F10-RT 是一款緊湊型桌面測量系統(tǒng)，集成了測量單元和測量臺(tái)。可同時(shí)測量反射率和透射率，輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)即可進(jìn)行復(fù)雜設(shè)置，而且設(shè)置非常簡單。
要特點(diǎn)
緊湊型桌面測量系統(tǒng)，集成測量單元和測量臺(tái)
光譜范圍廣，可選擇多種光源可同時(shí)測量反射率和透射率，并具有膜厚、折射率和消光系數(shù)分析功能，
同時(shí)用標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)相機(jī)記錄測量位置。放個(gè)樣品就好了。無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，設(shè)置非常簡單
主要用途
| 平板 | 聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、增透膜、PET、玻璃基板上的各種光學(xué)薄膜 |
|---|---|
| 光學(xué)鍍膜 | 玻璃、眼鏡、鏡片等的硬涂層。 |
| 薄膜太陽能電池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
測量示例
用于平板的透明電極ITO的膜厚和折射率的測量實(shí)例
同時(shí)測量反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件即時(shí)分析薄膜厚度、折射率等。
