半導體晶圓片在加工過程中目視檢查燈的使用

晶圓片是由多晶硅（多晶硅是不能用來做半導體電路）摻雜練成單晶硅通過 Czochralski (CZ) 方法生長成硅錠，硅錠用金剛石鋸來準確切割成晶圓片。晶圓片再進行研磨，打薄，蝕刻、清洗、倒角、拋光……步驟，形成晶圓片成品。

晶圓片拋光面用來生產電路，這面必須沒有任何突起、微紋、劃痕和殘留損傷。拋光過程分為兩個步驟，切削和最終拋光。切削過程是去除硅上薄薄的一層，以生產出表面沒有損傷的晶圓片。最終拋光并不去除任何物質，只是從拋光表面去除切削過程中產生的微坑。

拋光后，晶圓片要通過一系列清洗槽的清洗，這一過程是為去除表面顆粒、金屬劃痕和殘留物。之后，要經常進行背面擦洗以去除最小的顆粒。這些晶圓片經過清洗后，將他們按照最終用戶的要求分類，并在高強度半導體晶圓片檢查燈下檢查，以便發現不必要的顆粒或其他缺陷。一旦通過一系列的嚴格檢測，最終的晶圓片即被包裝在片盒中并用膠帶密封。然后把它們放在真空封裝的塑料箱子里，外部再用防護緊密的箱子封裝，以確保離開超凈間時沒有任何顆粒和濕氣進入片盒。

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用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

特點】

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2. 使用鹵素燈作為光源，色溫高達3400°K，照光和顏色均一了穩定強光的照射。 

3. 由于冷鏡的使用，使得熱影響與常規鋁鏡相比較少1/2 到 1/3 

4. 光束直徑由鏡片調整，30-50mm 之間調整 

5. 底部開光，調整照明勘察器高度，操作簡便，可控制光量。 

表面檢查燈funatech FY-18N/FY-18L

表面檢查燈 FY-18/FY-18N/FY-18L是日本funatech公司生產，適合于精密工件表面的傷痕及異物的表面檢查燈。精密工件表面的傷痕、臟東西、異物等式引起不.良品的很大原因。FY系列表面檢查燈/FY-100R綠光燈只選用人眼敏感的光線，是可以簡單明確判斷上述不.良原因的表面檢查燈/綠光燈。

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