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硅片表面光潔度檢測設備-光澤度計IG-410的特點
閱讀：958 發布時間：2024-4-6硅片表面光潔度檢測設備-光澤度計IG-410的特點
使用近紅外線作為光源，測量光澤度為1000（鏡面反射率100%）。
這是一種便于現場作業的便捷類型，只需將與顯示部分分離的測量部分放置在被攝體上即可進行測量。
無需預熱。
它非常適合需要高水平表面光澤的產品的質量控制，例如汽車頭燈等照明用反射器、復印機用反射器和硅晶圓。
IG-410 能夠測量金屬等高光澤區域，
是 IG 系列光澤度檢查儀的新成員。測量范圍為0至1000，比以前的型號大10倍。還可以測量鏡面樣品。緊湊輕巧的設計，方便現場測量，
重量僅350g，方便攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以輕松攜帶到生產現場進行測量。
由于采用LED作為光源，因此無需擔心光源的壽命。可通過在 2 個量程之間切換來測量低光澤度。可
在 0 至 100 和 0 至 1000 之間切換。每個范圍都配有自己的校準板。
IG-410 不僅可以測量高光澤金屬，還可以測量低光澤區域，例如金屬板上涂漆的樣品。
應用實例
用于檢查金屬制品的表面光潔度
用于檢查鋁和不銹鋼軋制板的外觀
用于檢查電鍍產品的外觀
用于檢查硅片表面光潔度
*由于光澤度是通過光的反射來測量的，因此測量點必須平坦。