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詳細摘要： 日本napson硅片晶圓平整度測量系統FLA-200非接觸式平面度/厚度測量系統。測量晶片樣品的平整度（TTV，BOW，WARP）和厚度。-支持測量厚度，TTV...

詳細摘要： 日本napsonμ非接觸式光學膜厚測量系統FilmTek 1000該公司的產品可以執行非接觸，非破壞性和高精度的折射率測量，半導體，光電，數據存儲，平板，MEM...

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詳細摘要： 日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀PVE-80一種非接觸式電阻測量系統，使用脈沖電壓激勵方法作為測量原理，可在不損壞樣品的情況下進行測量。

詳細摘要： 日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀：DUORES根據測量目標交換和使用兩種類型的探頭（無損探頭和接觸探頭）。

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詳細摘要： 日本napson手持式探針無損渦流法電阻測量儀EC-80P只需觸摸手持式探頭即可測量電阻。在電阻/薄層電阻測量模式之間輕松切換使用JOG撥盤輕松設置測量條件連接...

詳細摘要： 日本napson手動非接觸式渦流法電阻測量儀EC-80緊湊且易于操作的手動非接觸式（渦流法）電阻測量儀

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