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首頁>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體材料測試>>體微缺陷測試

  • SIRM紅外體微缺陷分析儀 參考價:面議

    SIRM是非接觸和非破壞型光學(xué)檢測設(shè)備,對體微缺陷,如氧化物和金屬沉淀,位錯、堆垛層錯,體材料中的滑線和空隙等進行測試。這個技術(shù)也可對GaAs 和 InP等復(fù)合...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    體微缺陷測試
    2025/6/24 16:05:071010
  • LST體微缺陷測試設(shè)備 參考價:面議

    LST是檢測半導(dǎo)體材料的體微缺陷有力工具,通過CCD相機,對入射光在樣品邊沿的散射進行掃描,獲得體微缺陷分布信息。
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    體微缺陷測試
    2025/6/24 16:03:09863

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