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美國ZYGO激光干涉儀 參考價：面議
美國ZYGO激光干涉儀Verifire™ MST激光干涉儀可以進行三個甚至四個平行面的測量，不僅可以顯示所有的面，并且可以排除其他的面而單獨顯示你所...
永新NP-800M偏光顯微鏡 參考價：面議
永新NP-800M偏光顯微鏡專用消應力物鏡提供高清晰，高反差的圖像。用于單偏光，正像鏡檢，錐光鏡檢等多種觀察。
永新NP900偏光顯微鏡 參考價：面議
永新NP900偏光顯微鏡是一款成像清晰度更高、對比度更強、使用效率更高的可定制型科研級偏光顯微鏡。其功能強大、使用舒適，是您科學研究及日常檢驗的可靠伙伴。
永新NX1000 系列工業檢測顯微鏡 參考價：面議
永新NX1000 系列工業檢測顯微鏡精確成像，色彩還原度高——采用NIS45無限遠光學系統，具有工作距離長，色差矯正能力強，成像銳利等優秀的光學品質。
永新NMM-820 系列金相顯微鏡 參考價：面議
永新NMM-820 系列金相顯微鏡研究用系統金相顯微鏡，涵蓋明場、暗場、偏光等觀察方式。反射、透反射兩種照明系統可選，配有大功率透反射式雙光路柯勒照明系統。適用...
永新JSZ8系列連續變倍體視顯微鏡 參考價：面議
永新JSZ8系列連續變倍體視顯微鏡同級別中*先的機型，變焦范圍0.6X-5X可進行廣范圍的觀察，視野寬廣，最大可達Φ76mm。高性能光學部件，可形成清晰...
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內，池內可以承載一個大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM力電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM力電一體測量系統 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統 參考價：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統，原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06產品特點，真空腔體：真空度優于610-4 Pa。降溫后優于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06，高可靠性探針臺系統，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學研...
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統 參考價：面議
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統超低震動干式液氦光學低溫恒溫器系統，使用氣體導熱隔震，實現樣品臺納米級的機械穩定性。為有效降低環境震動影響，產品設計安裝在光學隔震平臺...
澤攸手動探針臺系統 參考價：面議
澤攸手動探針臺系統，可定制手動探針臺系統，整套系統包配置有探針臺主體、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。
澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06 參考價：面議
澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06產品主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺、進口分子泵組、全旺程真空規、智能溫控儀等組成。
澤攸SEM納米探針臺 參考價：面議
澤攸SEM納米探針臺產品實現了三維空間上的準確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優點，可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運...
澤攸ZP3-4 微納探針臺 參考價：面議
澤攸ZP3-4 微納探針臺 可以快速、準確、穩定、使用場景多樣化、完善的技術解決方案、直觀、方便、高度集成。
5軸高精度3D表面測量系統S neox Five Axis 參考價：2000000
此款西班牙Sensofar 5軸高精度3D表面測量系統S neox Five Axis 結合了高精度旋轉模塊和S neox 3D光學輪廓儀的先進檢測和分析功能在...
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