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[供應]美國達高特-多功能超聲波測厚儀CMXDL+
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  • 美國達高特-多功能超聲波測厚儀CMXDL+
貨物所在地:
陜西西安市
更新時間:
2021-07-01 15:18:06
有效期:
2021年7月1日 -- 2022年7月1日
已獲點擊:
95
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產品簡介

美國達高特-多功能超聲波測厚儀CMXDL+
美國DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測厚儀,帶A/B掃描功能,可測量材料的厚度,穿透涂層測量材料厚度,也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置。
標準版為灰度顯示屏,可選彩屏版。

詳細介紹

 美國達高特-多功能超聲波測厚儀CMXDL+

多功能超聲波測厚儀CMXDL+

 
 

儀器特點

 

美國DAKOTA公司CMXDL+多功能超聲波測厚儀,帶A/B掃描功能,可測量材料的厚度,穿透涂層測量材料厚度,也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置。
標準版為灰度顯示屏,可選彩屏版。

 

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100MHz FPGA時序電路設計
可選彩色和灰度顯示屏
    A/B掃描
手動調節增益和自動增益控制 (AGC),范圍:110dB
自動時間相關增益(TDG)
多種測量模式
脈沖-回波(P-E)模式:測量材料厚度
脈沖-回波涂層(PECT)模式:同時測量材料和涂層厚度
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式:測量材料厚度
回波-回波(E-E)模式:穿過涂層測量材料厚度
回波-回波驗證(E-EV)模式: 穿過涂層測量材料厚度
測量涂層(CT)模式:只測量涂層厚度
可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
    USB Type-C數據接口
內置4GB SD存儲卡


 美國達高特-多功能超聲波測厚儀CMXDL+

 

 

技術參數

 

 

 

測量

 

脈沖-回波(P-E)模式測量范圍:0.63mm30.48m()
脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍:0.63mm30.48m()0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式測量范圍:0.63mm30.48m()
回波-回波(E-E)模式測量范圍:2.54152.4mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍:2.54102mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
測量涂層(CT)模式測量范圍:0.0127~2.54mm(涂層)
分辨率:0.01mm
聲速范圍:309.8818542m/s
單位:公制或英制
校準:一點和兩點校準方式

 

顯示

 

顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素。可視區62x45.7mmEL背光;可選1/4英寸彩色顯示屏,320x240象素
    A-掃描方式:檢波+/-(缺陷視場)RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)。縱向和橫向視圖(彩色顯示屏)
    B-
掃描方式:基于時間的橫截面視圖。顯示速度為每秒10200個讀數
大數字方式:標準厚度顯示,數字高度17.78mm/14.35mm(彩色顯示屏)
厚度條形掃描:速度10Hz,在B-掃描和大數字顯示中可見
穩定度指示:表示測量值的穩定性
功能狀態指示:顯示當前的功能

 

超聲波參數

 

測量模式:P-EPECTPETPE-EE-EVCT
脈沖:可調方波脈沖發生器
接收:根據選擇模式在110dB范圍內采用手動或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可調
計時:單次100MHz8位超低功耗數字化儀TCXO計時
脈沖重復頻率:250Hz

 

探頭

 

頻率范圍:1~20MHz
雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
    LEMO
接口,1.2米探頭線
可定制用于特殊應用的探頭

 

存儲

 

容量:內置4GB SD
數據結構:網格(字母數字)和順序(自動識別)
截屏功能:位圖圖形捕獲,用于快速記錄
數據輸出:通過USB Type-C連接的計算機

 

功能

 

設置:64個用戶定義設置,用戶也可編輯出廠設置
探頭類型可選:內置雙路誤差校正,提高線性度
報警模式:上下限視聽報警
快速掃描模式:每秒250個讀數,當探頭離開時顯示小值

 

其他

 

鍵盤:12個觸摸鍵
電源:標配為三節5號堿性電池,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態指示。無操作五分鐘后自動關機。USB Type-C供電
外殼:擠壓鋁機殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度:-1060℃
尺寸重量:63.5x165x31.5mm,含電池385g
包裝:ABS工程塑料箱
出廠證書:工廠校準可追溯到NISTMILSTD-45662A標準

  

 

 

雙晶探頭

 

 

   型號

   頻率

  探頭晶片直徑

   探頭防磨面直徑

   測量范圍

   說明

   PT-102-2900

   5.0MHz

   6.35mm

   9.53mm

   1.0152mm

  標準CT探頭(可測涂層厚度)

   PT-101-2900

   5.0MHz

   4.76mm

   6.35mm

   1.050mm

  小管徑CT探頭

   PT-102-3300

   7.5MHz

   6.35mm

   9.53mm

   0.63152mm

  薄探頭

   PT-104-2900

   5.0MHz

   12.7mm

   15.88mm

   1.27508mm

  CT探頭

   PT-042-2000

   5.0MHz

   6.35mm

   9.53mm

   1.0152mm

  標準高溫探頭,340℃

   PT-044-2000

   5.0MHz

   12.7mm

   15.88mm

   1.27508mm

  厚高溫探頭,340℃

   PT-212-2001

   5.0MHz

   6.35mm

   9.53mm

   1.0152mm

  高溫探頭,480℃

   PT-214-2001

   5.0MHz

   12.7mm

   15.88mm

   1.27508mm

  厚高溫探頭,480℃

注:測試高溫表面時需用高溫耦合劑

 

單晶探頭

 

   探頭型號

   頻率

   描述

   說明

   PT-402-5507

   15MHz

   晶片Ø6.35mm

   標準延遲塊探頭

   PT-402-6507

   20MHz

   晶片Ø6.35mm

   延遲塊探頭

   PT-4903-2875

   5MHz

   晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm

   接觸式探頭

   PT-4903-4875

   10MHz

   晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm

   接觸式探頭

   PT-4023-2855

   5MHz

   晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm

   接觸式探頭

   PT-4023-4855

   10MHz

   晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm

   接觸式探頭

   PT-481-4507

   10MHz

   延遲塊前端Ø1.59mm

   筆式探頭

 

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