能量色散X射線熒光光譜法EDX6000無(wú)損測(cè)定鉑制品中鉑含量
并不是所有閃閃發(fā)光的都是黃金，如果您想確切知道其中包含的黃金量，可以依靠我們的X射線熒光（XRF）光譜儀：EDX6000，您可以快速檢查珠寶的真實(shí)性并分析貴金屬和其他雜質(zhì)金屬的含量–而且不同于火試金測(cè)量法，我們的設(shè)備對(duì)樣品是*無(wú)損地。
全新設(shè)計(jì)的EDX6000光譜儀，使用了垂直光路的設(shè)計(jì)，有效提高了非平面樣品（比如戒指）的定位和測(cè)試精度。同時(shí)，垂直光路使光管與樣品位置更近，能更高效激發(fā)樣品
我們運(yùn)用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)委員會(huì)提供的鉑金和鈀金標(biāo)樣,根據(jù)X射線熒光光譜分析方法的基本原理對(duì)EDX6000測(cè)金儀進(jìn)行標(biāo)定,然后對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)及數(shù)據(jù)比對(duì),并根據(jù)基本參數(shù)法對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行了必要的修正,以提高測(cè)量方法的精度.本應(yīng)用方法可測(cè)量多元素鉑合金,其測(cè)量范圍為Pt含量99.99%～25%,測(cè)量誤差定為0.1%-0.3%.
測(cè)試數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)樣品值對(duì)比
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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