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X熒光測硫儀測量時要注意樣品臺板的位置

閱讀:1230      發布時間:2024-6-24
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X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。其原理是用X光激發源照射待分析的油樣,樣品中硫元素的內層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發的電子返回基態的時候,會放射出硫元素的特征 X 光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號,儀器軟件系統將其轉為對應的測試強度。用標準物質樣品建立特征X射線強度與硫含量之間的關系,也就是標定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標定曲線后,再去測試未知樣品,便可快速分析石油及其他液體中的硫含量。
參考樣和待測樣品被置于同一載樣臺板上。當取樣孔可以取樣時,參考樣位于測量位置,此時顯示屏右下角有:“參考樣位于測量位置”字樣,當擋板蓋住取樣孔時,待測樣位于測量位置,此時顯示屏左下角有:“待測樣位于測量位置”字樣。
樣品臺板只能處于測“參考樣”位置或測“待測樣”位置,不能處于其它任何中間位置,處于其它位置儀器將報警,也不能正常工作。
儀器在不測含量時,載樣處于測“參考樣”位置。儀器自動對參考樣采樣,且采用當前的數據平均值,供儀器測量含量時使用,這樣儀器一直處于等待狀態,放入待測樣就可以分析。

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