粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。
工作原理：
當光線照射到顆粒上時會發生散射、衍射，其衍射、散射光強度均與粒子的大小有關。觀測其光強度，可應用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論求得粒子徑分布(激光衍射/散射法)，使用Mie散射理論進行計算。光入射到球形粒子時可產生三類光:類，在粒子表面、通過粒子內部、經粒子內表面的反射光;第二類，通過粒子內部而折射出的光;第三類，在表面的衍射光。這些現象與粒子的大小無關，全都可以作為光散射處理。
一般地，光散射現象可以用經Maxwell電磁方程式嚴密解出的Mie散射理論說明。但是，實際使用起來過于復雜，為了求得實際的光強度，可根據入射波長λ和粒子半徑r的關系，即:r<λ時，Rayleigh散射理論;r>λ時，Fraunhofer衍射理論。在使用上述理論時，應考慮到光的波長和粒徑的關系，在不同的領域使用不同的理論。
粒度儀應用領域：
廣泛應用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、細胞、細菌、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉狀物料。
