菲希爾X射線測(cè)厚儀介紹
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線測(cè)厚儀是一款入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。菲希爾X射線測(cè)厚儀它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時(shí)測(cè)定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY菲希爾熒光射線測(cè)厚儀儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。
產(chǎn)品應(yīng)用
既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。在配備了平板電腦后，XAN500同樣采用WinFTM軟件。基于基本參數(shù)法的WinFTM軟件不僅能進(jìn)行材料分析，還能測(cè)量鍍層厚度，并可實(shí)現(xiàn)無(wú)校準(zhǔn)（不需標(biāo)準(zhǔn)片）測(cè)量。
