日本JEOL 場發(fā)射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F

產品特點：

電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領域，作為研究開發(fā)和的分析工具被廣泛使用，其用途越來越廣。此外，在學術領域 ，地球空間科學、材料科學領域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻。與此相應，在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP200F能更加有效地進行觀察分析操作，是更的一體化集成場發(fā)射EPMA。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱