菲希爾 X 射線測厚儀 XDL 系列：型號與特點解析

菲希爾 X 射線測厚儀 XDL 系列是應用廣泛的能量色散型 X 射線鍍層測厚及材料分析儀。該系列包含多種型號，各有特色，能滿足不同用戶的測量需求。

XDL 210 型配備固定式工作臺和固定位置的 Z 軸系統，結構簡單，成本較低。適用于樣品測量位置相對固定的場景，如小型實驗室對常規樣品的初步檢測。它運用 X 射線熒光光譜法，通過自動聚焦功能可精準測量鍍層厚度，元素測量范圍涵蓋 Cl（17）-U（92），最多可同時測量 24 種元素、23 層鍍層。

XDL 220 型同樣是固定式工作臺，但采用了馬達驅動的 Z 軸系統，測量高度調節更便捷、精準。適合五金加工企業等需要頻繁調整測量高度且對精度有一定要求的場景，可用于不同規格零部件的鍍層測量。

XDL 230 型配備可手動操控的 X/Y 工作臺和馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統。樣品在平面方向的定位更加靈活，能滿足復雜形狀樣品的多角度測量需求，常用于電子元器件、精密模具等對測量位置要求較高的產品檢測。它還可通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸實現自動化的批量測試，長期穩定性良好，無需經常校準。

XDL 240 型是系列中的高級型號，擁有馬達驅動的 X/Y 工作臺，保護門開啟時工作臺自動移到放置樣品的位置，操作便利性與安全性大幅提升。搭配馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統，實現了自動化、智能化的測量流程，適用于大規模生產企業的在線檢測，以及對測量效率和自動化程度要求高的科研機構。