原理

光學干涉與斷層掃描：OCT 膜層檢測儀借助光學干涉現象，讓低相干光經樣品反射后與參考光干涉。通過斷層掃描技術，精準捕捉不同膜層的光傳播信息，重建三維結構，從而實現對膜層厚度、缺陷等的高精度分析。

組件協同工作：光源系統提供寬帶近紅外光，干涉儀完成光的分配與干涉處理，掃描系統實現樣品方位掃描，探測器負責信號采集，數據處理系統則將原始信號轉化為直觀的斷層圖像。

特點

非接觸式與無損檢測：不會對易損膜層材料造成破壞，既能保護樣品，又能保證檢測的重復性與準確性。

實時檢測：可融入生產線，及時發現生產中的問題，有助于提高生產效率和產品質量。

自動化操作：減少人工誤差，降低運營成本，同時提高檢測的一致性和可靠性。

高分辨率：能夠達到微米級的成像精度，可清晰地顯示膜層的微觀結構和缺陷，遠超超聲波檢測。

深度分辨：可逐層分析多層結構，如涂層、薄膜等，提供豐富的內部結構信息。

適應性強：適用于透明、半透明及部分不透明材料，具有較廣泛的應用范圍。

應用領域

工業領域

電子元件檢測：可檢測電子元件的涂層質量，如電路板上的三防漆涂層，能夠快速發現氣泡、分層等缺陷，確保電路板的可靠性。

顯示屏幕檢測：用于檢測手機 3D 屏、柔性 OLED 等顯示屏幕的薄膜缺陷，對薄膜的厚度、均勻性等進行精確測量，保障屏幕的顯示質量。

半導體晶圓檢測：可以檢測半導體晶圓的細微損傷、劃痕、凹坑等表面缺陷，以及內部的裂紋、氣泡等缺陷，有助于提高半導體器件的良品率。

鋰電池檢測：能對鋰電池極片涂層的均勻性進行分析，還可測量各種封裝膜、貼合膠帶的厚度，以及監測電池行業激光焊接熔深，保障鋰電池的質量和安全性。