XDAL237菲希爾X射線測厚儀

區別在于使用的探測器類型不同。在德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠好于XDLM使用的比例計數器的能量分辨率。因而，這臺儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。

無錫駿展儀器供應菲希爾X射線源是一個能產生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而，由于相對較小的探測器有效接收面積（相比較比例計數器探測器來說），信號強度低，故XDAL有限適用于極微小結構和測量點的測量。和XDLM類似，準直器和基本濾片是可自動切換，以便為不同測量程式創造的激勵條件。

德國菲希爾FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測厚儀的測量空間寬大，菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅動可調節的Z軸允許放置zui高可達140mm高度的樣品。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDAL237測量系統配有快速可編程的XY平臺，因而可以方便地按照預定程序掃描檢查樣品表面。此外，在如引線框架等樣品上進行多點測量，或是在多個不同樣品上進行批量測量，都可以通過快速編程自動化地完成。

由于XY平臺在艙門打開時，能自動彈出到加載樣品位置，故而樣品放置定位變得十分簡便。激光點標示處就是樣品的測量位置。