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菲希爾XDAL600
菲希爾X射線Fischer X熒光射線測厚儀特點
菲希爾X射線測厚儀Fischer x熒光分析儀采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標準，用于自動測量達到0.05μm的
ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀
無錫駿展儀器供應3種不同的探測器可選（Si-PIN二極管；SDD 20 mm2；SDD 50 mm2）
無錫駿展儀器供應3種可切換基本濾片
無錫駿展儀器供應4種可切換準直器
最小測量點約為0.15mm
樣品最高高度可達14cm
可編程XY工作臺，定位精度為10µm
開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板
經過認證的全面保護設備
菲希爾X射線測厚儀Fischer x熒光分析儀應用
菲希爾X射線測厚儀Fischer x熒光分析儀鍍層和合金（也包括薄涂層和低濃度）的材料分析
菲希爾X射線測厚儀Fischer x熒光分析儀電子行業，ENIG，ENEPIG
連接器和觸點
黃金，珠寶和制表業
PCB制造薄金（幾納米）和鈀鍍層的測量
微量元素分析
高可靠性應用的鉛（Pb）的測定（避免錫晶須）
對硬質材料涂層的分析
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