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當前位置：> 供求商機> 菲希爾、X射線測厚儀FISCHER XDL230
菲希爾X射線測厚儀典型的應用領域有：
測量大規模生產的電鍍部件
測量超薄杜策，例如：裝飾鉻
測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
全自動測量，如測量印刷線路板
分析電鍍溶液
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據不同的預期用途，有不同的版本。
菲希爾X射線測厚儀XDL 210 型的工作臺為固定式工作臺，固定位置的 Z 軸系統。
菲希爾X射線測厚儀XDL 220 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅動的 Z 軸系統。
菲希爾X射線測厚儀XDL 230 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅動的 Z 軸升降系統。
菲希爾X射線測厚儀XDL 240 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統。
XDL系列儀器可選配圓形或長方形準直器，采用比例接收器，測量距離為0-80mm，使用**保護的DCM測量距離補償法。
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