目錄:杭州葛蘭帕科技有限公司>>原子力顯微鏡>>AFM原子力顯微鏡>> 葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 原子力顯微鏡 | 應用領域 | 食品/農產品,化工,能源,電子/電池,制藥/生物制藥 |
葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop工作模式
1. 標準工作模式：
1.1 輕敲模式(Vibration mode)
1.2 接觸模式(Contact mode)
1.3 相位成像模式(Phase imaging)
1.4 橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5 力曲線測試（Force curve）可測楊氏模量
1.6 納米操控 （Nanomanipulation）
1.7 納米刻蝕 （Nanolithography）
1.8 力矩陣模式 （Force Mapping）
1.9 摩擦力測試 （Friction Mode）
2. 可選工作模式：
2.1 磁力顯微鏡模式（MFM mode）
2.2 靜電力顯微鏡模式（EFM mode）
2.3 導電顯微鏡模式（C-AFM mode）
2.4 液相模式 （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是專門從事設計和制造原子力顯微鏡的專業化公司 。公司創始人是有30年原子力顯微鏡經驗的 Paul West博士，原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。
葛蘭帕LS-AFM原子力顯微鏡AFMWorkshop技術參數
掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm
Z方向范圍：17 μm，7 μm
XY方向驅動分辨率：0.01 nm
Z方向驅動分辨率：0.003 nm
Z方向測量噪音水平：0.15 nm
樣品尺寸：直徑25mm
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