Spectra ETEM 環境透射電子顯微鏡相對于前幾代ETEM平臺的主要更新如下:
01 遠程操作平臺，使科研人員進一步免于氣體危害。
02 配備有單色器的超亮熱場場發射電子槍，可簡便準確地控制電子劑量。
03 搭配雙球差校正器，進一步拓展環境透射電鏡的表征能力。
04 進一步優化氣體控制系統，搭配了3個不同的氣體入口，并可預設分壓。
05 極靴內無窗高壓氣氛環境，可在S/TEM模式提供最佳襯度和分辨率。
06 出色的 ETEM 真空系統與大極靴設計，兼容大角度雙傾桿與種類豐富的原位樣品桿。
07 非ETEM模式（高真空模式）下可達到常規Spectra球差校正平臺的性能指標。
08 兼容各種全新表征硬件與技術:Panther STEM iDPC EMPAD Ceta-S Falcon 4i......
生產合適的材料并做出正確的設計選擇對于解決諸如開發更安全和更持久的電池，創建更輕的材料以提高能效以及構建更快，更高容量的計算機處理器或存儲設備等挑戰至關重要。Spectra非常適合需要在原子水平上表征各種材料的學術或工業實驗室的研究人員。它允許他們制造輕質材料，如先進鋼，鋁合金或塑料，用于開發更安全或更省油的運輸。Spectra還支持新半導體結構和材料的研究，為未來的高性能電子器件提供必要的構建模塊。
Spectra新的檢測功能，使科學家和工程師能夠獲得以前難以獲得的原子級數據，以滿足更廣泛的應用需求。該平臺可以獲得極其光束敏感的材料和半導體結構的詳細圖像，包括金屬有機框架，沸石和聚合物，如果暴露在電子束中太長時間或在錯誤的電壓下可能會損壞或破壞。它還滿足了使用EDX（能量分散X射線）或EELS（電子能量損失光譜）等多種方式對大量原子級化學分析的不斷增長的需求。
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