您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
行業(yè)產(chǎn)品
歡迎: | 您已成功登錄: 進(jìn)入管理退出登錄收藏該商鋪
普泰克(上海)制冷設(shè)備技術(shù)有限公司
18701761086
首頁 >> 技術(shù)文章 >> 普泰克半導(dǎo)體溫度測試發(fā)展趨勢
立即詢價(jià)
聯(lián)系方式
我們將在第一時(shí)間聯(lián)系您
請勿重復(fù)留言!
激光誘導(dǎo)熒光(LIF)技術(shù):通過芯片表面熒光粉溫度 - 波長特性,實(shí)時(shí)監(jiān)測結(jié)溫(精度 ±1℃);
紅外熱成像 + AI 算法:結(jié)合機(jī)器學(xué)習(xí)預(yù)測芯片熱點(diǎn)分布,縮短測試時(shí)間(傳統(tǒng)方法需 2 小時(shí),AI 優(yōu)化后 < 30 分鐘)。
溫度 + 電場 + 濕度聯(lián)合測試:模擬海洋環(huán)境下器件腐蝕失效(如沿海地區(qū)基站芯片需通過 85℃/85% RH + 偏壓測試);
溫度 + 振動復(fù)合應(yīng)力:汽車發(fā)動機(jī)艙內(nèi)器件需通過 - 40℃~+150℃+20G 振動測試(ISO 16750 標(biāo)準(zhǔn))。
集成于半導(dǎo)體制造設(shè)備的溫控測試腔(如 CVD 沉積后直接進(jìn)行溫度 - 電學(xué)特性測試);
基于貝葉斯優(yōu)化的測試方案:自動生成溫度采樣點(diǎn),減少測試量(如將全溫域測試點(diǎn)從 100 個降至 15 個,誤差 < 2%)。
上一篇: 普泰克-溫控控制芯片主要應(yīng)用
下一篇:普泰克-高低溫測試探針臺典型應(yīng)用場景
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗(yàn)證碼
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
詢價(jià)產(chǎn)品
立即詢價(jià)
您提交后,專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)