B6-C 高精度超聲波測(cè)厚儀 捷克諾頓

適用范圍：

測(cè)量各類金屬及其合金制品的厚度，可穿透保護(hù)涂層對(duì)基材厚度進(jìn)行測(cè)量，涂層的厚度值一并顯示。測(cè)量各類非金屬產(chǎn)品（塑料、陶瓷、橡膠、玻璃和其它）的厚度，以及其它超聲波良導(dǎo)體材料的厚度測(cè)量。

優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)：

1、2.4寸TFT彩色液晶顯示屏（分辨率：320×240）；

2、A掃描模式下，以圖形的方式顯示多次底波反射信號(hào)；

3、帶有B掃描測(cè)量模式；

4、可穿透保護(hù)涂層對(duì)金屬基材進(jìn)行測(cè)厚（在E-E-E模式和P-E-Ct模式下）；

5、可測(cè)量保護(hù)涂層厚度（在P-E-Ct模式下）；

6、具有探頭自動(dòng)識(shí)別功能；

7、儀器內(nèi)置29種不同材料的標(biāo)準(zhǔn)聲速值，方便隨時(shí)調(diào)用；

8、涂層聲速值單獨(dú)設(shè)定，確保不同的涂層材料，其厚度測(cè)量值準(zhǔn)確（默認(rèn)是油漆聲速）。

基本技術(shù)參數(shù)：

*測(cè)量厚度范圍取決于所檢測(cè)材料的聲學(xué)特性和探頭的類型。

**可穿透涂層厚度范圍取決于涂層材料的聲學(xué)特性。

交付組件：

帶探頭的儀器主機(jī)（探頭數(shù)量和型號(hào)由客戶選擇）、充電器、mini-USB—USB A型數(shù)據(jù)線纜（用于連接計(jì)算機(jī)）、軟件光盤（用于傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)并處理測(cè)量結(jié)果）、使用說明書（中英文各一份）、防震儀器箱。

可選配的B6-C測(cè)厚儀探頭

雙晶探頭5A10

檢測(cè)對(duì)象：測(cè)量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚。

技術(shù)特點(diǎn)：

工作頻率：5MHz；

測(cè)厚范圍（對(duì)于鋼）：1.0至200.0mm；

可穿透油漆層對(duì)基材進(jìn)行測(cè)厚（僅適用于平面工件，油漆層厚度≤0.5毫米）；

接觸面尺寸：Φ10mm；

探頭外形尺寸：Φ18×26mm；

工作溫度范圍： -10至+60℃；

注：采用新型復(fù)合材料制作，具有較高的耐磨性，并且與粗糙表面接觸良好。

雙晶探頭10A6

檢測(cè)對(duì)象：測(cè)量管道的厚度，半徑較小的容器的彎曲區(qū)域。

技術(shù)特點(diǎn)：

工作頻率：10MHz；

測(cè)厚范圍（對(duì)于鋼）：0.6至20mm；

接觸面尺寸：Φ6mm；

探頭外形尺寸：Φ14×26mm；

工作溫度范圍：-10至+60℃；

注：采用新型復(fù)合材料制作，具有較高的耐磨性，并且與粗糙表面接觸良好。

雙晶探頭2.5A12

檢測(cè)對(duì)象：在制造、運(yùn)行和維修過程中測(cè)量金屬和非金屬產(chǎn)品的殘余壁厚。

技術(shù)特點(diǎn)：

工作頻率：2.5MHz；

測(cè)厚范圍（對(duì)于鋼）：3.0至200.0mm；

接觸面尺寸：Φ15mm；

探頭外形尺寸：Φ22×45mm；

工作溫度范圍：-10至+60℃；

注：在粗糙或銹蝕非常嚴(yán)重的工件表面具有良好的透聲性。

小尺寸雙晶探頭10A4

檢測(cè)對(duì)象：測(cè)量壁厚較薄的管材和金屬板材的厚度。

技術(shù)特點(diǎn)：

工作頻率：10MHz；

測(cè)厚范圍（對(duì)于鋼）：0.5至10mm；

接觸面尺寸：Φ4.5mm；

探頭外形尺寸：Φ9×11mm；

工作溫度范圍：-10至+60℃；

注：可用于狹小、難以進(jìn)入的位置的厚度檢測(cè)（飛機(jī)的縱梁，小直徑的管道等）。

雙晶高溫探頭5T12

檢測(cè)對(duì)象：用于測(cè)量高溫零部件的厚度。

技術(shù)特點(diǎn)：

工作頻率：5MHz；

測(cè)厚范圍（對(duì)于鋼）：1.0至100.0mm；

接觸面尺寸：Φ14mm；

探頭外形尺寸：Φ26×48mm；

工作溫度范圍：-10至+250℃。

可穿透涂層的測(cè)厚探頭

雙晶探頭5E10

檢測(cè)對(duì)象：測(cè)量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚，可直接測(cè)得基材的厚度值并忽略涂層厚度，也可同時(shí)顯示出基材和涂層的厚度值（在P-E-Ct模式下）。

技術(shù)特點(diǎn)：

工作頻率：5MHz；

測(cè)厚范圍（對(duì)于鋼）：1.5至300.0mm（在P-E和P-E-Ct模式下）；

1.0至20.0mm（在E-E-E模式下）；

可穿透涂層厚度為2.0mm（在E-E-E模式下）；

可穿透涂層厚度為1.0mm（在P-E-Ct模式下）；

接觸面尺寸：Φ12mm；

探頭外形尺寸：Φ25×47mm；

工作溫度范圍：-1至+60℃。

雙晶探頭10E6

檢測(cè)對(duì)象：測(cè)量管道的厚度，半徑較小的容器的彎曲區(qū)域，可直接測(cè)得基材的厚度值并忽略涂層厚度，也可同時(shí)顯示出基材和涂層的厚度值（在P-E-Ct模式下）。

技術(shù)特點(diǎn)：

工作頻率：10MHz；

測(cè)厚范圍（對(duì)于鋼）：0.6至50.0mm（在P-E模式下）；

0.6至10.0mm（在E-E模式下，可穿透涂層厚度為1.0mm）；

0.6至25.0mm（在P-E-Ct模式下，可穿透涂層厚度為0.5mm）；

接觸面尺寸：Φ8mm；

探頭外形尺寸：Φ25×47mm；

工作溫度范圍：-10至+60℃。

帶延遲塊的探頭15P6DL

檢測(cè)對(duì)象：推薦用于非常薄的材料的厚度測(cè)量。

技術(shù)特點(diǎn)：

工作頻率：15MHz；

測(cè)厚范圍（對(duì)于鋼）：0.25至10.0m；

穿透涂層時(shí)的測(cè)厚范圍：0.25至10.0mm（可穿透涂層厚度為2mm）；

接觸面尺寸：Φ7.4mm，

探頭外形尺寸：Φ14×25.5mm；

注：可用于狹小、難以進(jìn)入的位置的厚度檢測(cè)（飛機(jī)的縱梁，小直徑的管道等）。

帶保護(hù)膜的單晶探頭P111-S5C（用于E-E-E模式）

檢測(cè)對(duì)象：在E-E-E模式下，用來測(cè)量金屬和非金屬產(chǎn)品的殘余壁厚，可直接測(cè)得基材的厚度值并忽略涂層厚度。

技術(shù)特點(diǎn)：

工作頻率：5MHz；

測(cè)厚范圍（對(duì)于鋼）：1.0至200.0mm；

接觸面尺寸：Φ16mm；

探頭外形尺寸：Φ26×46mm；

工作溫度范圍：-10至+60℃；

保護(hù)膜：聚氨酯膜；

注：在粗糙或銹蝕非常嚴(yán)重的工件表面具有良好的透聲性,可穿透涂層對(duì)基材進(jìn)行測(cè)厚。

帶保護(hù)膜的單晶探頭P111-S2C（用于E-E-E模式）

檢測(cè)對(duì)象：在E-E-E模式下，用來測(cè)量金屬和非金屬產(chǎn)品的殘余壁厚，可直接測(cè)得基材的厚度值并忽略涂層厚度。

技術(shù)特點(diǎn)：

工作頻率：2.25MHz；

測(cè)厚范圍（對(duì)于鋼）：2.0至150.0mm；

接觸面尺寸：Φ16mm；

探頭外形尺寸：Φ26×46mm；

工作溫度范圍：-10至+60℃；

保護(hù)膜：聚氨酯膜；

注：在粗糙或銹蝕非常嚴(yán)重的工件表面具有良好的透聲性,可穿透涂層對(duì)基材進(jìn)行測(cè)厚。