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分布式超級電容模組PACK容量內(nèi)阻測試儀N5831系列簡介

同系列型號：N5831-05-300 N5831-12-250 N5831-25-120 N5831-50-60 N5831-100-30

N583系列為NG公司針對超級電容研發(fā)和生產(chǎn)而自主設計開發(fā)的超級電容模組/PACK容量內(nèi)阻測試儀。N5831系列可對超級電容充電容量、放電容量、充電等效串聯(lián)內(nèi)阻（DCIR）、放電等效串聯(lián)內(nèi)阻（DCIR）、能量轉(zhuǎn)換效率、循環(huán)壽命等電氣參數(shù)進行高精度測試測量。N5831系列可提供多種測試方法，用戶可根據(jù)需要靈活選擇。N5831系列上位機軟件支持平臺化測試應用，用戶可根據(jù)測試工藝和測試流程自行定制測試文件，測試結果可方便存儲和導出。導出格式可支持數(shù)據(jù)庫、EXCEL、JPG文件。

分布式超級電容模組PACK容量內(nèi)阻測試儀N5831系列產(chǎn)品特點

■  電壓范圍：0-200V

■  電流范圍：0-1200A

■  轉(zhuǎn)換速度快，恒壓恒流過程轉(zhuǎn)換速度高達1ms

■  超高測試精度

■  支持用戶自定義測試流程

■  智能測試步驟編輯，提高配置效率

■  多通道集中控制，通道間獨立運行

■  超高采樣速度，最高采樣速度高達1ms

■  DCIR測量支持多種主流模式，應用靈活

■  支持分選功能，客戶可根據(jù)自己規(guī)格指標設定分選等級

■  標準19英寸機箱，節(jié)省寶貴空間

■  兼容A/h、W/h、F等多種容量測試方法

功能與優(yōu)勢

硬件設計特色

多種型號與功率-滿足各種測試需求

1）具有多種規(guī)格可供選擇：電壓范圍：0-200V，電流范圍：0-1200A，功率范圍：0-200kW
2）模塊化設計方式，功率可按需求配置

3）豐富的測試夾具與功率范圍，支持各類電池單體與電池模組測試
4）電壓輸出基本精度：0.05%，電流輸出基本精度：0.05%

高頻采樣測量技術-提高測量準確度

電壓電流采樣率高達1mS

一般電池充放電測試器使用軟件記錄值來計算電容量與能量，然而有限的數(shù)據(jù)采樣率在計算動態(tài)電流時會導致較大誤差；通過提高V/I采樣率能夠以更高的精確度提供容量計算。當電流瞬間變化時，數(shù)據(jù)不失真，傳輸速度不受影響。

支持多種電池夾具-方便各種用戶的測量

N5831系列超級電容容量內(nèi)阻測試儀提供四類電池夾。通用型夾具，適用于夾持各類圓柱形電池；科研用夾具（含大電流設備使用夾具），用鱷魚夾將充放電電極、測量電極全部引出，可夾持任意種類研究用異型原電池；聚合物電池專用夾具；扣式電池專用夾具。采用電池夾與儀器相對隔離的機柜結構，配合儀器本身提供硬件軟件保護，提高系統(tǒng)安全性，使用戶的無憂測試得以保證。另外電池夾具與機柜相對隔離的機柜結構使對電池恒溫測試易于實現(xiàn)。

充轉(zhuǎn)放過程無過充，響應速度快

采用精密的設計電路，保證充放電過程快速，精確。充電過程中恒流充點轉(zhuǎn)恒壓充電無過充，能保護被測產(chǎn)品，防止由于過程導致測試結果不準或樣品損毀等情況。恒壓充電轉(zhuǎn)恒流無縫切換，結合1ms高速采樣，真實還原出產(chǎn)品測試過程，滿足用戶測試QC/T741、六步法、充轉(zhuǎn)放法對直流等效內(nèi)阻（DCIR）的測試要求。

支持四電極測量-降低電壓測量誤差

所有電池夾具均為4電極，2個輸出電極用于提供測試電流，另2個測量電極用于測量電池電壓。多電極測量不僅提高測量精度，而且支持參比電極測試，適合于電極材料的研究使用。

支持多路溫度采集

N5831全系列支持16路溫度采集，可根據(jù)各種NTC規(guī)格參數(shù)，滿足用戶對超級電容包內(nèi)部溫度的實時監(jiān)控，確保產(chǎn)品在測試過程中安全穩(wěn)定。

軟件設計特色

▲ N5831測試軟件采用平臺化設計，用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測試流程。
▲ 類Office界面風格，支持電壓電流波形繪制，可以以表格形式顯示,結果等諸多元素，使得這款專業(yè)軟件在具備強大測試 功能同時，兼具美觀易用優(yōu)點。
▲ 設計有功率限制電路，反應時間極短，可有效保護負載不會因為過功率而損壞。
▲ 采用全屏蔽技術，對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應性，有效提高了負載抗干擾能力。

容量測量

直流內(nèi)阻（DCIR）測試

壽命測試

N5831可通過重復充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。

產(chǎn)品尺寸