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致茂局部放電測試器MODEL 19501-K產(chǎn)品簡介

Chroma 19501-K局部放電測試器內(nèi)建交流耐電壓測試(Hipot Test)與局部放電(Partial D i s c h a rge, PD)偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出0 . 1 k V~10k V， 漏電流測量范圍0.01μ A~300μA， 局部放電偵測范圍1pC~2000pC，針對高壓半導體組件與高絕緣材

料測試應用所設計與開發(fā)。

Chroma 19501-K局部放電測試器產(chǎn)品設計符合IEC60270-1法規(guī)，針對高電壓試驗技術中對局部放電測試要求，采用窄頻濾波器 (Narrowband)量測技術進行PD放電量測量，并將量測結果以直觀數(shù)值 (pC) 顯示在屏幕上讓用戶清楚明了待測物測試判定結果。

產(chǎn)品設計上，除了符合IEC60270-1，同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規(guī)要求，內(nèi)建IEC60747-5-5法規(guī)之測試方法于儀器內(nèi)部，滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測試需求，并提供用戶便利的操作接口。

于生產(chǎn)在線執(zhí)行高壓測試時，如果待測物未能正確及良好連接測試線，將導致測試結果失敗甚至發(fā)生漏測的風險，因此在測試前確保待測物與測試線良好連接是非常重要的。Chroma之高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check :HVCC) 系利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之組件，于高壓輸出時同步進行接觸檢查，增加測試有效性與生產(chǎn)效率。

在固體絕緣物中含有氣隙或雜質(zhì)混合在絕緣層時，額定工作高壓狀態(tài)下，由于較高的電場強度集中于氣隙而產(chǎn)生局部放電 (Partial Discharge),持續(xù)性的局部放電會長久劣化周遭絕緣材，而影響電氣產(chǎn)品之長久信賴性，而引起安全事故。

應用于電源系統(tǒng)之安規(guī)組件，如光耦合器，因考慮如果組件長時間發(fā)生局部放電對于絕緣材料的破壞，而發(fā)生絕緣失效的情況，進而引發(fā)使用者人身安全問題；因此，在IEC60747-5-5法規(guī)中提及，于生產(chǎn)過程中 (Routine test) 必須100%執(zhí)行局部放電 (Partial discharge) 檢測，在最大絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量，確保產(chǎn)品在正常工作環(huán)境中不會發(fā)生局部放電現(xiàn)象。

局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關等高絕緣耐受力之組件，提供高壓的耐壓測試與局部放電偵測，確保產(chǎn)品質(zhì)量與提升產(chǎn)品可靠度。

致茂局部放電測試器MODEL 19501-K特點

■ 單機內(nèi)建交流耐壓測試與局部放電偵測功能

■ 可程序交流耐壓輸出 0.1kVac~10kVac

■ 高精度及高分辨率電流表 0.01μA~300μA

■ 局部放電(PD)偵測范圍 1pC~2000pC

■ 高壓接觸檢查功能( HVCC)

■ 符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規(guī)測試要求

■ 內(nèi)建IEC60747-5-5測試方法

■ 量測與顯示單元分離式設計

■ 三段電壓測試功能

■ PD測量結果數(shù)值顯示 (pC)

■ PD不良發(fā)生次數(shù)判定設定 (1~10)

■ 多語系繁中/ 簡中/英文操作接口

■ USB畫面擷取功能

■ 圖形化輔助編輯功能

■ 標準LAN、USB、RS232遠程控制接口