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日本NARISHIGE成茂科學MTK-1-O2四維縱桿液壓顯微作器2025/3/24
MTK-1-O2/O3/N2/N3/N4/Z1/Z3/L2(符號說明)四維縱桿液壓顯微作器該機械手針對懸浮細胞(如ICSI)進行了優化。創新的扇形驅動器可確保您在設置移液器吸頭后不會錯過移液器吸頭。保...
日本KETT凱特萬能水分測試儀 HB-3002025/3/24
特征測量范圍寬,可測量多個物體簡單的校準曲線創建可在幾秒鐘內輕松完成測量豐富的可選傳感器規格測量方法電阻測量范圍1~99%(取決于校準和樣品)準確性取決于校準環境溫度0~40°C電源電池6個“AA”大...
日本TOPCON?觀察Ne、Ar的光譜線輸出SR-NIR分光輻射計2025/3/22
近紅外分光輻射計SR-NIR高精度測定超微弱近紅外光產品概要近年來,在顯示器及照明市場上,對“近紅外領域”的測定需求日漸增多。之前,行業內并沒有一款能夠簡便且高精度測定近紅外光的相關儀器。TOPCON...
日本TOPCON?超低亮度分光輻射計 SR-UL22025/3/22
超低亮度分光輻射計SR-UL2超低亮度分光輻射度計第2款機型!產品概要本產品是在獲得好評的超低亮度分光輻射度計SR-UL1R的基礎之上,實現了更高靈敏度、更高速化的機型,是業界靈敏度最高,量程范圍從0...
TOPCON日本分光輻射計SR-5S2025/3/22
[新產品]分光輻射計SR-5S新一代SR系列標準機型高速測量高色度精度產品概要本產品為光學結構更新,靈敏度提升及內部系統改良,大幅縮短測量時間的,新一代分光輻射度計的標準機型。此外、采用大熒幕彩色觸控...
日本TOPCON?分光輻射計SR-5A2025/3/22
分光輻射計SR-5A具HDR,高速,操作性新時代SRseries產品概要本產品對應超低亮度到超高亮度的量程,高感度及高速的新時代分光輻射計。測量角1°量程擴大,對應0.0005cd/m2的超低亮度及高...
日本TOPCON?分光輻射計SR-5AS2025/3/22
分光輻射計SR-5AS具HDR,高速,操作性新時代SRseries對應量程從0.0001cd/m2起的*高級機型產品概要本產品對應超低亮度到超高亮度的量程,高感度及高速的新時代分光輻射計。在測定角2°...
日本KETT凱特NIR 水分分析儀 KB-2302025/3/17
特征臺式快速水份測定儀使用近紅外光的反射光在應用光照后幾秒鐘內顯示結果樣品容器高度靈活,可在塑料袋上進行測量通過作主機上的按鍵創建校準曲線規格測量方法近紅外反射,在底平面投射/接收的光光譜學濾波器測量...
KETT凱特紅外快速水份測定儀FD-6602025/3/17
特征強調Basic性能的Basic模型最小水分含量顯示0.01%,重量顯示5mg使用自動去皮減少漂移兩種類型的測量模式:自動和定時規格測量方法通過加熱和干燥檢測重量損失樣品質量1-80g(可選重量采樣...
日本三豐MITUTOYO防冷劑千分尺 MDC-PX2025/3/17
防冷劑千分尺MDC-PXIP65防護等級標準價格(不含稅):21,300日元測量范圍(mm):0~25*小顯示量(mm):0.001*有關產品的*庫存狀況和交貨日期,請與貿易公司或我們的銷售辦事處聯系...
293-257-30日本三豐MITUTOYO防冷卻液千分尺2025/3/17
防冷卻液千分尺MDC-125~300MXIP65防護等級標準價格(不含稅):42,000日元測量范圍(mm):100~125最小顯示量(mm):0.001*有關產品的最新庫存狀況和交貨日期,請與貿易公...
RIGAKU理學全內反射 X 射線熒光光譜儀TXRF 310Fab2025/3/17
TXRF310Fab系列全內反射X射線熒光光譜儀分析痕量從輕元素Na到重元素U的污染物元素采用轉子式高功率X射線發生器和新設計的入射X射線單色器。過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米...
RIGAKU理學全內反射X 射線熒光光譜儀TXRF 37602025/3/15
TXRF3760系列全內反射X射線熒光光譜儀對晶圓表面的污染進行無損、非接觸式和高靈敏度分析轉子式高功率X射線發生器和新設計的入射X射線單色器過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米2達...
RIGAKU日本理學用于薄膜評估的 X 射線熒光光譜儀WaferX 3102025/3/15
WaferX310系列用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀(WD-XRF)可以無損、非接觸式方式同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。這是一種波長色散X射線熒光光...
RIGAKU日本理學晶圓磁盤分析儀 36502025/3/15
晶圓/磁盤分析儀3650用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀對各種薄膜的厚度和成分進行同步、無損、非接觸分析這是一種波長色散X射線熒光光譜儀(WD-XRF),可以以非破壞性、非接觸的方式同時分析最大~200...

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