15510102388
當前位置：> 供求商機> 寫真化學通過顯微圖像光譜測厚儀
由于薄膜厚度是通過光學干涉法計算的，因此
薄膜厚度分布可以以 0.1 nm 或更低的分辨率以 3D 形式顯示。
在顯微鏡視場中測量任意區(qū)域的薄膜厚度和薄膜質量分布
，并以 3D 形式顯示分布
分辨率與可見光波長光學涂層測厚儀相當
波長范圍從 450 nm 到 750 nm，可以 1 nm 的增量
使用與反射膜厚度監(jiān)視器相同的計算引擎進行并行計算
（1） 數百層重復層壓薄膜和溝槽等復合結構
（2） 用 EMA（有效介質近似）法估計亞微米圖案的密度
（3） 局部結晶度評估
您可以根據工件和應用選擇物鏡
半導體
太陽能電池
平板顯示器
玻璃（涂層）和
薄膜
請輸入賬號
請輸入密碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
