電容式位置傳感，亞納米級分辨率 參考價：面議
電容式位置傳感，亞納米級分辨率，50 kSa/s 數據采集；提供平板、圓柱和螺柱三種探頭形式，量程覆蓋 0.2 mm, 0.5 mm, 1 mm, 2 mm &...
多通道溫度監視器 參考價：面議
多通道溫度監視器，主從機設計，可靈活增減測試通道，可自定義選配2-32路獨立測溫通道。
雙通道低溫溫控儀 參考價：面議
雙通道低溫溫控儀，最大100 W輸出功率和低至300 mK控溫溫度。MultiFields推出的 “Kelvinion mini"是一款設計緊湊的低溫溫控儀。它...
8通道低溫溫控儀 參考價：面議
8通道低溫溫控儀，8路獨立的高精度溫度測量通道。MultiFields推出的 “Kelvinion"是一款功能強大的低溫溫控儀。它包括八路獨立的高精度溫度測量通...
3He樣品桿低溫平臺 參考價：面議
3He樣品桿低溫平臺，集成在3He樣品桿上的300 mK溫區的物性測試系統，通過利用“單發式"的3He樣品桿將傳統的2 K低溫系統的溫度擴展至300 mK，結合...
4K超低振動低溫光學恒溫器 參考價：面議
4K超低振動低溫光學恒溫器，專為光學實驗設計的超低溫平臺，將振動控制在了納米量級
光學共聚焦測試系統 參考價：面議
光學共聚焦測試系統，一體化的低溫共聚焦測試解決方案，包含共聚焦顯微成像、拉曼光譜和磁光克爾功能模塊
鐵磁共振測試系統 參考價：面議
鐵磁共振測試系統，鐵磁共振測量，自旋電子學高頻測試?體化解決方案，可實現 FMR, ST-FMR, ISHE & Spin-Pumping 等測量功能
磁電耦合測試系統 參考價：面議
磁電耦合測試系統，實現介電/鐵電/多鐵?站式測量方案，具有超高靈敏度的磁電耦合系數測試系統
鐵電測試系統 參考價：面議
鐵電測試系統，實現介電/鐵電/多鐵?站式測量方案，提供包括電表，算法，自動化程序和樣品桿在內的?體化鐵電測量解決方案
介電測試系統 參考價：面議
介電測試系統，實現介電/鐵電/多鐵?站式測量方案，兼容塊體和薄膜的介電、鐵電、熱釋電等測試
通用電輸運測試系統 參考價：面議
通用電輸運測試系統，覆蓋常規的電阻、霍爾等電學測量，?持光纖、高電壓和極小信號測量拓展
熱膨脹測試系統 參考價：面議
熱膨脹測試系統：熱膨脹測量一體化解決方案，支持熱膨脹 (ΔL vs T) & 磁致伸縮 (ΔL vs H)測量
比熱容測試系統 參考價：面議
比熱容測試系統：比熱容測量一體化解決方案，通過熱弛豫方法實現高精度的熱容測量，搭配專業測量儀
磁性測試·ACSM測試模塊 參考價：面議
交流磁化率測量，磁性測試·ACSM測試模塊，提供包括電表，算法，?動化程序，?具箱和樣品桿在內的?體化測量解決方案
壓電電動螺釘，亞納米運動控制 參考價：面議
AutoScrew.Nano，壓電電動螺釘，亞納米運動控制； “AutoScrew 系列“ 光學鏡架調節
壓電電動螺釘，兼容標準鏡架螺紋 參考價：面議
AutoScrew.LR，壓電電動螺釘，兼容標準鏡架螺紋； “AutoScrew 系列“ 光學鏡架調節
壓電電動光學調整架，自動鏡架，斷電保持 參考價：面議
Mirrors25.L125，壓電電動光學調整架，自動鏡架，斷電保持；3自由度調節偏轉，用于鏡片轉動和光路調節等應用場景
壓電位移臺快反鏡，3自由度調節，高速擺鏡 參考價：面議
Mirrors.Z12TxTy0101，壓電位移臺快反鏡，3自由度調節，高速擺鏡；3自由度調節偏轉，用于鏡片轉動和光路調節等應用場景
壓電位移臺快反鏡，兩維偏轉，高速擺鏡 參考價：面議
Mirrors.TxTy，壓電位移臺快反鏡，兩維偏轉，高速擺鏡；大角度 & 高動態偏轉，用于鏡片轉動和光路調節等應用場景
壓電位移臺快反鏡，Z軸掃描，高速擺鏡 參考價：面議
Mirrors.Z12，壓電位移臺快反鏡，Z軸掃描，高速擺鏡；毫秒級運動響應，高分辨率相位調節解決方案，高動態位置姿態定位，光路調節
壓電陶瓷線性位移臺，X軸掃描 參考價：面議
X20mini，壓電陶瓷mini線性位移臺，X軸掃描外形緊湊，動力性能不折扣的壓電線性臺
壓電三軸并聯位移臺，三自由度，ZTT移動 參考價：面議
Free3D.ZTxTy.150，壓電三軸并聯位移臺，三自由度，ZTT移動；由納米級驅動單元實現的三自由度并聯結構，有效降低累積誤差；多軸姿態同時調節、結構穩定...
磁性測試·VSM測試模塊 參考價：面議
磁性測試·VSM測試模塊，提供包括電表，算法，?動化程序，?具箱和樣品桿在內的?體化測量解決方案
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