目錄:杭州科銘光電科技有限公司>>小麥面粉大米檢測化驗儀器>>谷物分析儀>> KM-SDY水稻表型檢測系統(tǒng)
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 便攜式 | 應用領域 | 食品/農(nóng)產(chǎn)品,農(nóng)林牧漁,綜合 |
水稻育種研究中，水稻表型參數(shù)至關重要，水稻表型檢測儀可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、總粒數(shù)和千粒重以及水稻莖稈分析等指標的測量，可多點快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。這些表型參數(shù)在水稻品種篩選、水稻產(chǎn)量預測、稻穗動態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發(fā)揮著至關重要的作用。軟件集合多方面功能為一體，一站式解決水稻的表型參數(shù)測量問題。廣泛適用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的水稻研究。
水稻表型檢測系統(tǒng)技術參數(shù)
測量范圍和誤差：
1、水稻畝穗數(shù)測量誤差： ≤±5%
2、稻穗形態(tài)測量范圍： 5~20cm
3、水稻夾角測量范圍： 0-180°
4、作物莖粗： 0-5.2cm
誤差
穗長誤差： ±2%
夾角測量誤差： +5%
作物莖粗測量誤差： ±1mm
千粒重測量誤差： ±2%
株高測量范圍： 0.1-1.5m
水稻莖稈測量誤差：.....±5%
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