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當(dāng)前位置：北京中科萬垣科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>高低溫原位臺(tái)>>可控高溫原位X射線測(cè)試臺(tái)
可控高溫原位X射線測(cè)試臺(tái)是一種集成了高溫控制與X射線衍射分析功能的科研設(shè)備。適用于晶體材料物相定性和定量分析、衍射譜的指標(biāo)化和點(diǎn)陣參數(shù)的測(cè)定、晶粒尺寸及點(diǎn)陣畸變...
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