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產品簡介
詳細介紹
從SEM觀察到EDX分析都可輕松操作的SEM-EDX一體化系統。從樣品表面觀察到元素分析，在一個監視器上簡便地操作。
→SEM部 二次電子圖像分辨率 3.5nm
倍率 ×20～300,00
→EDX部 分辨率 144eV
可檢測元素 C～U
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